產品型號:TS-SI-3P
相移電子散斑干涉(ESPI)技術是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之后發(fā)展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠激光干涉和計算機圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用,可用于解決工程中的強度和剛度問題,并可用于殘余應力測量。
三維相移電子散斑干涉儀可滿足物體表面面內位移和離面位移同時測量的要求。該儀器采用高性能半導體激光器作光源,并配以電子散斑條紋實時顯示和位相處理軟件,使得操作方便、測量結果兼容性強(便于通用數據處理軟件接口)。
主要技術指標:
◆ 光源:半導體泵浦固體激光器(綠光),輸出功率大于20mw, 波長532nm
◆ 相機:1280×1024 USB2.0數字攝像頭
◆ 鏡頭:25mm定焦鏡頭(標配),可選配其它C接頭
◆ 工作距離:400~800mm
◆ 條紋分辨率:1/20級條紋(13.3nm)
◆ 演示試件: 圓盤受均布載荷,懸臂梁
◆ 范圍:Ф250mm
◆ 尺寸:520cm×370cm×250cm
◆ 重量:22kg