產品型號:TS-SI-3P
相移電子散斑干涉(ESPI)技術是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之后發(fā)展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠激光干涉和計算機圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用,可用于解決工程中的強度和剛度問題,并可用于殘余應力測量。
三維相移電子散斑干涉儀可滿足物體表面面內位移和離面位移同時測量的要求。該儀器采用高性能半導體激光器作光源,并配以電子散斑條紋實時顯示和位相處理軟件,使得操作方便、測量結果兼容性強(便于通用數(shù)據(jù)處理軟件接口)。
主要技術指標: 三維相移電子散斑干涉儀
◆ 光源:半導體泵浦固體激光器(綠光),輸出功率大于20mw, 波長532nm
◆ 相機:1280×1024 USB2.0數(shù)字攝像頭
◆ 鏡頭:25mm定焦鏡頭(標配),可選配其它C接*頭
◆ 工作距離:400~800mm
◆ 條紋分辨率:1/20級條紋(13.3nm)
◆ 演示試件: 圓盤受均布載荷,懸臂梁
◆ 大范圍:Ф250mm
◆ 尺寸:520cm×370cm×250cm
◆ 重量:22kg
公司常年聘用國內、外高校和科研院所的多位專家教授作為公司的技術顧問,結合自身實際,不斷進行新產品的研制開發(fā),目前產品行銷各大高校及科研院所的實驗室等地方。其中,我公司與研究機構合作研制的翹曲變形測量系統(tǒng)已于2005年初被飛利浦公司所采用。光測力學實驗室儀器也被美國奧克蘭大學、清華大學、中國科技大學、國防科大、首都醫(yī)科大學、東南大學、北京航空航天大學、南京航空航天大學、西安交通大學、西北工業(yè)大學、武漢大學、蘭州大學、河海大學等院校所采用,為他們的教學和科研提供了新的研究手段,增加了新的研究方向。