產(chǎn)品型號(hào):TS-SI-3P
相移電子散斑干涉(ESPI)技術(shù)是繼光彈性和全息干涉等光測(cè)力學(xué)方法之后發(fā)展起來(lái)的一種實(shí)驗(yàn)力學(xué)新方法。它直接依靠激光干涉和計(jì)算機(jī)圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運(yùn)用,可用于解決工程中的強(qiáng)度和剛度問(wèn)題,并可用于殘余應(yīng)力測(cè)量。
三維相移電子散斑干涉儀可滿(mǎn)足物體表面面內(nèi)位移和離面位移同時(shí)測(cè)量的要求。該儀器采用高性能半導(dǎo)體激光器作光源,并配以電子散斑條紋實(shí)時(shí)顯示和位相處理軟件,使得操作方便、測(cè)量結(jié)果兼容性強(qiáng)(便于通用數(shù)據(jù)處理軟件接口)。
主要技術(shù)指標(biāo): 三維相移電子散斑干涉儀
◆ 光源:半導(dǎo)體泵浦固體激光器(綠光),輸出功率大于20mw, 波長(zhǎng)532nm
◆ 相機(jī):1280×1024 USB2.0數(shù)字?jǐn)z像頭
◆ 鏡頭:25mm定焦鏡頭(標(biāo)配),可選配其它C接*頭
◆ 工作距離:400~800mm
◆ 條紋分辨率:1/20級(jí)條紋(13.3nm)
◆ 演示試件: 圓盤(pán)受均布載荷,懸臂梁
◆ 大范圍:Ф250mm
◆ 尺寸:520cm×370cm×250cm
◆ 重量:22kg
公司常年聘用國(guó)內(nèi)、外高校和科研院所的多位專(zhuān)家教授作為公司的技術(shù)顧問(wèn),結(jié)合自身實(shí)際,不斷進(jìn)行新產(chǎn)品的研制開(kāi)發(fā),目前產(chǎn)品行銷(xiāo)各大高校及科研院所的實(shí)驗(yàn)室等地方。其中,我公司與研究機(jī)構(gòu)合作研制的翹曲變形測(cè)量系統(tǒng)已于2005年初被飛利浦公司所采用。光測(cè)力學(xué)實(shí)驗(yàn)室儀器也被美國(guó)奧克蘭大學(xué)、清華大學(xué)、中國(guó)科技大學(xué)、國(guó)防科大、首都醫(yī)科大學(xué)、東南大學(xué)、北京航空航天大學(xué)、南京航空航天大學(xué)、西安交通大學(xué)、西北工業(yè)大學(xué)、武漢大學(xué)、蘭州大學(xué)、河海大學(xué)等院校所采用,為他們的教學(xué)和科研提供了新的研究手段,增加了新的研究方向。