DOT 100 MEMS測試設(shè)備概況
SPEA - DOT100MEMS測試設(shè)備:這臺設(shè)備就是設(shè)計來解決MEMS和其他低接腳計數(shù)裝置的測試要求在一個令人難以置信的成本低。SPEA DOT100設(shè)備導(dǎo)向型測試儀是基于革命的”按照設(shè)備”的架構(gòu)上。每個被測試設(shè)備的專用的CPU管理整個測試過程。而且每張明信片大小的卡就承載所有資源以并行測試六個設(shè)備。
1.多站點快速并行測試
一個器件,一個專用的CPU
一個器件, 一個器件電源和時間測量單元
每通道模式記憶 (30 Mstep)
達(dá)到1,152個模擬/數(shù)字通道
異步數(shù)字功能
可編程邏輯器件
2.超高密度接腳電子
DOTMEMS測試設(shè)備的核心是接腳電子:它提供了48個通道道,分為3/6路獨立的部分。 每個部分包含:
8個數(shù)字通道 @5MHz + 8個模擬通道(每接腳有驅(qū)動器和數(shù)字化儀)
8個數(shù)字通道 @50MHz + 1個模擬通道(復(fù)用驅(qū)動器和數(shù)字化儀)
一個DPS通道
一個時間測量單元