- 用途
- 技術(shù)參數(shù)
1、雙端口檢測;
2、大口徑元件面形檢測;
3、測量光學(xué)元件的材料均勻性;
4、平行平板元件多表面測試;
5、元件面形分析,光學(xué)數(shù)據(jù)處理。
序號 | 指標(biāo)名稱 | 指標(biāo)參數(shù) |
1 | 測試結(jié)構(gòu) | 臥式雙端口; |
2 | 測試口徑 | 大端口:有效口徑≥φ450mm; 小端口:有效口徑≥φ100mm; |
3 | 相移方式 | QPS波長調(diào)諧相移或機(jī)械相移解相; |
4 | 測試光源 | 波長調(diào)諧相干光源,λ=632.8nm,相干長度≥100m; 可選氦氖相干光源,λ=632.8nm(用于機(jī)械相移) |
5 | CCD指標(biāo) | 可選分辨率≥1.2K×1.2K,或分辨率≥2.3K×2.3K, 或分辨率≥3.4K×3.4K; |
6 | φ800mm標(biāo)準(zhǔn)楔形鏡(TF鏡) | 標(biāo)準(zhǔn)面面形:PVr優(yōu)于λ/20,中頻誤差PSD1小于0.9nm,進(jìn)口熔石英材料; |
7 | φ800mm標(biāo)準(zhǔn)反射鏡(RF鏡) | 標(biāo)準(zhǔn)反射面面形:PVr優(yōu)于λ/20,中頻誤差PSD1小于0.9nm,進(jìn)口微晶材料; |
8 | 系統(tǒng)傳遞函數(shù) | ITF ≥ 0.7 @ 0.4 mm-1(φ450mm大端口系統(tǒng)); |
9 | 系統(tǒng)精度 | 系統(tǒng)精度:系統(tǒng)空腔精度PVr優(yōu)于λ/15,中頻誤差PSD1小于0.9nm(φ800mm有效口徑內(nèi)); |
10 | 系統(tǒng)重復(fù)性精度 | 系統(tǒng)重復(fù)性精度:系統(tǒng)RMS重復(fù)性優(yōu)于λ/2000(2σ); |
11 | 調(diào)焦范圍 | 調(diào)焦范圍:光瞳調(diào)焦范圍≥±2m; |
12 | ZOOM變焦 | 1-6X光學(xué)變焦(1.2K) 或1X光學(xué)變焦,50X數(shù)字變焦(2.3K/3.4K); |
13 | 測試對準(zhǔn)方式與角度 | 測試對準(zhǔn)方式與角度:快對準(zhǔn)與精密對準(zhǔn)方式,對準(zhǔn)角度≥±15°/±3°; |
14 | 波長調(diào)諧相移分析軟件 | 輸出峰谷值(PV)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(RMS)、等高圖、X-Y剖面圖、三維立體圖、干涉條紋圖、MTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、PSF(點擴(kuò)散函數(shù)),澤爾尼科多項式分析、賽德爾相差分析等; 分析軟件可進(jìn)行矩形、橢圓、正方形、圓、多邊形等數(shù)據(jù)分析功能; 平行平板類元件測試功能(樣品無需特殊處理),一次干涉條紋數(shù)據(jù)采集可同時得到,平行平板前表面面形、后表面面形,光學(xué)厚度變化; 具有材料均勻性測試分析功能; |
15 | 標(biāo)準(zhǔn)反射鏡支撐調(diào)節(jié) | 二維手動與電控角度調(diào)節(jié),整體結(jié)構(gòu)氣浮大范圍移動; |
16 | 測試工裝 | 兩維角度調(diào)節(jié),一維平移調(diào)節(jié),大范圍氣浮調(diào)節(jié); |
17 | 氣浮隔振平臺 | 隔振平臺,尺寸≤3800mm×1500mm |