提高 VK-X100/X200靈活性的周邊儀器
VK 系列機架
高硬度專用機架固定在VK顯微系統(tǒng)的后邊。測量頭可以調(diào)整至任何高度。在測量頭和底座之間插入一個墊塊,提高穩(wěn)定性,有助于高精度的測量。
根據(jù)物體形狀,可以選擇各種鏡頭,包括高N.A. APO鏡頭、長焦距離鏡頭和低放大倍率鏡頭。
可以觀察和分析整個300 mm晶片,而不會有盲點。設(shè)計易于安裝。
電動載物臺對于圖像自動連接和 Teaching 至關(guān)重要。設(shè)計易于安裝。
大型液晶基板、PDP基板等大型物體通過非破壞性觀察可以觀察、分析任何重要部位。
ISO 25178
表面性狀測量模塊VK-H1XR
遵照國際規(guī)格 ISO25178,可計算平面的各種參數(shù)的追加模塊軟件??珊唵螠y量高度、空間、復(fù)合、功能、功能(體積)參數(shù)等的各種參數(shù)。
支持多種測量的便利功能
解析功能擴展模塊VK-H1XP [可選件]
凹凸部測量
將的高度閾值稍上部(凸部),或下部(凹部)領(lǐng)域分離成各個空間,然后對各個領(lǐng)域進行測量。
金屬零件表面處理后(3000 倍)
BUMP (2000 倍)
位置補正功能 [業(yè)界創(chuàng)新性]
設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)樣式,用模版打開另外的圖像時,在與注冊資料相同的位置,自動進行位置補正,大量地測量時非常有效。
線綁定 (1000 倍)
將 2個圖像中的差異作為立體三維圖像分析??梢苑治霰砻妫⒉蹲郊毿〉淖兓?。
球形·平面角度測量
在已的區(qū)域,可自動抽出近似圓的半徑。非手動,可控制測量偏差。
微透鏡 (1000 倍)
對顯微系統(tǒng)視野內(nèi)有許多微粒( 圓圈)的目標(biāo)物上自動進行“圓形分離”、“擴展”和“融合”。執(zhí)行了測量預(yù)處理后,例如自動分離周圍的圓形,可以對“數(shù)量”、“微粒直徑”以及“長短軸”進行測量。