MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能*。通過(guò)把光譜測(cè)量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測(cè)試模塊等部分構(gòu)成。
*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。
應(yīng)用范圍
- 腫瘤檢測(cè)
- 珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分
- 地質(zhì)研究
- 法學(xué)：筆跡鑒定、檢測(cè)等
定制顯微鏡
MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時(shí)，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對(duì)系統(tǒng)性能的側(cè)重點(diǎn)各不相同，該系統(tǒng)對(duì)此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。
單層石墨烯
乙醇
系統(tǒng)參數(shù)
型號(hào) | MicroTEQ-A1 | ||
光譜儀配置 | 拉曼 | 拉曼 | 熒光 |
光譜儀 | QEPRO@532 nm | QEPRO@785 nm | QEPRO-FL |
光譜范圍 | 150-4200 cm-1@532 nm | 150-2000 cm-1@785 nm | 300-1050 nm |
分辨率 | ~10 cm-1@5 um狹縫 | ~6 cm-1@5 um狹縫 | 1.5 nm@5 um狹縫 |
探測(cè)器 | 背照減薄型面陣CCD | ||
激光器 | 單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器 | ||
功率 | 50 mW | ||
波長(zhǎng) | 532 nm | ||
光束發(fā)散 | 1.3 mrad | ||
顯微光譜測(cè)量模塊 | 400-1100 nm | ||
模塊輸出能量 | 25 mW | ||
手動(dòng)衰減切換 | 50%, 10%, 1%, 0.1% | ||
光斑尺寸 | 10x NA0.25 物鏡下 <=10 um | ||
