Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀用于快速測(cè)量各類(lèi)平面光學(xué)元件的反射、透射光譜,可進(jìn)行多角度反射率、相對(duì)反射率、透射率測(cè)量,偏振光測(cè)量,膜性測(cè)量,顏色測(cè)量等。
儀器特點(diǎn):
測(cè)量對(duì)象:
技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | Planum-3000 |
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探測(cè)器 | Hamamatsu背照式CCD陣列 |
檢測(cè)范圍 | 380-1100nm |
波長(zhǎng)分辨率 | 1nm |
信噪比(全信號(hào)) | 1000:1 |
相對(duì)檢測(cè)誤差 | <0.2%(410-900nm) |
操作方式 | 自動(dòng) |
角度分辨率 | <0.0002° |
重復(fù)定位精度 | <0.005° |
旋轉(zhuǎn)速度 | 25°/s |
透射測(cè)量角度 | 0-80°(小樣品0-50°) |
反射測(cè)量角度 | 5-80° |
單次測(cè)量時(shí)間量 | <1s |
S/P光測(cè)量 | 支持 |
樣品尺寸 | >Φ3mm |
操作系統(tǒng)/接口 | Windows7~Windows10/ USB2.0 |
電源/功率 | 220V-50HZ /100W |
其它 | 可自定義打印報(bào)表格式,開(kāi)放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫(kù) |