F3是我們、的光譜反射儀,搭配厚度與折射率的軟件模組可以用來測量薄膜的特性,具備了這些軟件模組的F3,不但包含我們的F20的所有能力,而且還具備了即時(shí)波長校準(zhǔn)與壽命高達(dá)4萬小時(shí)的光源,這意味著減少了客戶長期維護(hù)的成本。
F3不到一秒鐘即可測量厚度與折射率,如同我們所有的厚度測量儀,通過USB端口安裝到Windows系統(tǒng)電腦平臺上,幾分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定,而且F3系統(tǒng)僅需USB連接而不需另外供電。F3系列膜厚儀的選擇同樣取決于薄膜厚度范圍的測量。