光學(xué)元件三維缺陷檢測儀(Model LS3D-2000),適用于各類光學(xué)材料的三維缺陷檢測和分析,特別是光學(xué)晶體、光學(xué)玻璃的三維缺陷檢測和分析。本系統(tǒng)是一款快速、簡便、高靈敏度檢測儀器。
1、速度快;
2、高靈敏度;
3、一鍵式全自動操作。
光學(xué)元件三維缺陷檢測儀 | |
型號 | LS3D-2000 |
缺陷檢測靈敏度 | 10 μm |
樣晶尺寸范圍 | 尺寸可訂制 |
檢測速度 | <2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm |
設(shè)備重量 | 300kg |
注:可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測試的解決方案。