高分辨率掃描探針顯微鏡
掃描探針聲顯微鏡(SPAM)是開展原位、實時、納米尺度上材料表面和亞表面的力學性質和結構無損檢測和成像的新技術，對促進納米科學和技術的發(fā)展有重要意義。在初步實驗發(fā)現(xiàn)的基礎上，進一步開展高分辨率的掃描探針聲顯微鏡的低頻成像理論、實驗和技術的研究，理解低頻工作模式下SPAM的信號激發(fā)機理，掌握提高SPAM像分辨率的技術，開發(fā)與商品掃描探針顯微鏡可兼容的聲信號激發(fā)和檢測系統(tǒng)，形成有自主知識產(chǎn)權的新的高分辨率掃描探針聲顯微鏡工作模式。
SPM-8000FM
-FM（頻率調制）
·懸臂定位檢測噪聲減少95%
·大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)真空型SPM性能水平·Z-X斷面觀察
·專用軟件實現(xiàn)三維制圖測定及分析
.FHR-SPM是采用頻率檢測方式（ Frequency Modulation ) ，可在大氣
·溶液環(huán)境下分析薄膜、結晶、半導體、有機材料等樣品，獲得與真空環(huán)境中同樣高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品。
在固體和液體的臨界面（固液界面）進行水化、溶劑化的觀察，因此也可作為固液界面結構的測量分析儀器。
