在同一空間內(nèi)有兩條*隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 簡化 FET 測試
特點
在同一空間內(nèi)可有 2 條通道
測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序。
使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測試
特點
消除與 PC 之間耗時的總線通信
高級數(shù)據(jù)處理和流量控制
通用型探頭/處理程序控制
系統(tǒng)性能，無主機(jī)
TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時所有通道同時獨(dú)立受控。
使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量
特點
支持 <500 ns 通道間同步
可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道
適合生產(chǎn)的低電流性能
2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率.
