產(chǎn)品簡介:
90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù),比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍!
詳細(xì)說明:
NanoBrook產(chǎn)品系列
項目 | 90Plus | 90Plus PALS | ZetaPALS | ||
功 能 | 粒度測量功能 | ● | ● | ○ | |
分子量測量功能 | ● | ● | ○ | ||
Zeta電位測量功能 | ○ | ● | ● | ||
技 術(shù) 參 數(shù) | 粒度范圍 | 0.3nm-15μm | ○ | ||
分子量測定范圍 | 342~2×107Dalton | ○ | |||
散射角 | 13°與90° | ○ | |||
相關(guān)器 | >4000物理通道,4×1011個線性通道 | ○ | |||
適用粒度范圍 | ○ | 1nm~100μm | |||
Zeta電位范圍 | ○ | 無有效限制 | |||
電導(dǎo)率范圍 | ○ | 0-30S/m | |||
電泳遷移率范圍 | ○ | 10-11~10-7m2/V.s | |||
電極 | ○ | 插入式型電極(毛細(xì)管電極可選) | |||
系 統(tǒng) 參 數(shù) | 溫控范圍與精度 | -5~120℃,±0.1℃ | |||
激光源 | 40mW固體激光器(He-Ne氣體激光器可選) | ||||
檢測器 | APD(量子效率QE>70%)或PMT | ||||
分析軟件 | Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 | ||||
大小及重量 | 233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg | ||||
選 件 | BI-ZTU自動滴定儀 | 可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖 | |||
BI-870介電常數(shù)儀 | 直接測量溶劑的介電常數(shù)值 | ||||
BI-SV10粘度計 | 用于測量溶劑及溶液的粘度 |
●代表“有” ○代表“無”
概述
PALS技術(shù)(PALS:Phase Analysis Light Scattering)是由布魯克海文儀器公司開發(fā)的一項全新的Zeta電位測量技術(shù),與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍。許多從事新材料、生命科學(xué)、環(huán)境工程等新興學(xué)科的研究人員長期以來苦于無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下的樣品進行分析,這就是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進行測量,ZetaPALS的出現(xiàn)為他們提供了準(zhǔn)確可信的測量技術(shù)。
典型應(yīng)用
1.脂質(zhì)體、生物膠體
2.陶瓷
3.顏料、油墨
4.醫(yī)藥
5.乳劑(食品、化妝品)
6.廢水處理
7.膠乳
8.炭黑
應(yīng)用案例
不同粒徑對Zeta電位等電點的影響 不同官能團配比對等電點的影響 Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系
通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)
技術(shù)參數(shù)
1.Zeta電位部分:
1)Zeta電位測量適用粒度范圍:0.001-100μm
2)樣品體積:0.018~1.5mL
3)pH值測量范圍:1-14
4)電導(dǎo)率范圍:0-30S/m
5)電泳遷移率范圍:10-11~10-7m2/V.s
6)溫度控制:-5 ~120℃, ±0.1℃
7)電場強度:0 ~ 60kV/m
8)電極:性插入式電極(毛細(xì)管電極可選),電極材料純鈀,不產(chǎn)生電滲
2.粒度及分子量測量部分:
1)粒度范圍:0.3nm~15μm(與折射率,濃度,散射角有關(guān))
2)典型精度:1%
3)樣品類型:任何膠體范圍大小的顆粒(懸浮于清液中)
4)樣品體積:0.003~3ml
5)分子量測定范圍:342~2×107Dalton
6)激光源:40mW固體激光器(He-Ne氣體激光器可選)
7)檢測器:APD(量子效率QE>70%)或PMT
8)相關(guān)器:>4000物理通道,4×1011線性通道;最小通道時間25ns;動態(tài)可變采樣時間、延遲時間、通道分配等技術(shù);4通道輸入;支持兩路互相關(guān)。