PALS技術(shù)（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布魯克海文儀器公司開(kāi)發(fā)的一項(xiàng)全新的Zeta電位測(cè)量技術(shù)，與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍。許多從事新材料、生命科學(xué)、環(huán)境工程等新興學(xué)科的研究人員長(zhǎng)期以來(lái)苦于無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下的樣品進(jìn)行分析，這就是因?yàn)槠潆娪具w移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的靈敏度進(jìn)行測(cè)量，ZetaPALS的出現(xiàn)為他們提供了準(zhǔn)確可信的測(cè)量技術(shù)。

簡(jiǎn)單的計(jì)算即可說(shuō)明硬件PALS技術(shù)的*性：

技術(shù)優(yōu)勢(shì)-Zeta電位測(cè)量部分：

1. 真正的PALS技術(shù)：

隨著在20世紀(jì)九十年代對(duì)ＰＡＬＳ技術(shù)研究的成熟，出現(xiàn)了兩種商品化的儀器。一種是使用PALS算法的Zeta電位儀，另一種就是使用真正PALS技術(shù)進(jìn)行測(cè)量的ZetaPALS。

通常情況下，僅使用PALS算法的Zeta電位儀需要對(duì)樣品進(jìn)行兩次單獨(dú)的測(cè)量從而補(bǔ)償由于使用毛細(xì)管而帶來(lái)的電滲運(yùn)動(dòng)的影響。這種方法僅僅是對(duì)傳統(tǒng)頻移技術(shù)數(shù)據(jù)的修正，而并不能真正有效的提高儀器的分辨率，因此也無(wú)法解決困擾Zeta電位測(cè)量的低電泳遷移率體系的測(cè)量問(wèn)題。但是，ZetaPALS是從測(cè)量方法入手，從信號(hào)提取方法、信號(hào)整形技術(shù)以及分析處理等各個(gè)階段都是使用的PALS技術(shù)，因此，這與其它任何僅簡(jiǎn)單使用PALS算法的儀器不同，ZetaPALS是真正意義上使用PALS技術(shù)的儀器。

2. *樣品槽設(shè)計(jì)：

布魯克海文公司開(kāi)發(fā)的新型樣品槽為開(kāi)放式，從根本上杜絕了電滲現(xiàn)象，從而充分保證了測(cè)試精度，使用戶省去了校準(zhǔn)、標(biāo)定、及費(fèi)心保養(yǎng)等麻煩，亦無(wú)交叉污染之憂。

3. 無(wú)二的電極設(shè)計(jì)：

鑒于使用傳統(tǒng)電泳方法測(cè)量Zeta電位存在的種種缺陷，布魯克海文公司開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)了一代的插入式電極。該電極使用純金或純鈀作為電極材料，因此電極壽命極長(zhǎng)；同時(shí)，由于也采用了開(kāi)放式的設(shè)計(jì)，電極的清洗變得簡(jiǎn)單易行；更重要的是，對(duì)于被測(cè)體系驅(qū)動(dòng)能力關(guān)鍵的是所加的電場(chǎng)強(qiáng)度（而不是電壓），由于這種電極的極板間距離相對(duì)更小，這樣就使得施加低電壓得到高場(chǎng)強(qiáng)成為可能，從而減小了測(cè)量過(guò)程中使用高電壓所產(chǎn)生的電流對(duì)膠體樣品的污染，尤其是對(duì)于那些離子濃度較高的體系來(lái)說(shuō)尤為重要。

4. 內(nèi)置兩重精密的溫度控制單元：

樣品溫度控制范圍: -5°C to 110℃

5. 高線性范圍的PMT檢測(cè)器和高靈敏的APD檢測(cè)器：

根據(jù)客戶實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求任選，PMT檢測(cè)器靈敏度較低，但是線性范圍更寬；APD檢測(cè)器靈敏度較高，但是線性范圍較窄。因此，對(duì)于不同應(yīng)用的用戶來(lái)說(shuō)，實(shí)際上應(yīng)該有不同的選擇。

納米粒度測(cè)量部分使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Sacttering, DLS)：

即由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動(dòng)，使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動(dòng)。采用數(shù)字相關(guān)器（digital correlator）技術(shù)處理脈沖信號(hào)，將光強(qiáng)的波動(dòng)轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù)。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U(kuò)散速度信息，進(jìn)而利用Stokes－Einstein方程計(jì)算得出粒子的擴(kuò)散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布：

技術(shù)優(yōu)勢(shì)-納米粒度測(cè)量部分：

1. 強(qiáng)大的TurboCorr數(shù)字相關(guān)器：的相關(guān)器，擁有522個(gè)物理通道，相當(dāng)于超過(guò)10¹⁰個(gè)線性通道，25nS-1310S動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及延遲時(shí)間分配，支持互相關(guān)測(cè)量，支持多路信號(hào)輸入（詳見(jiàn)相關(guān)資料）。

2. 采用35mW大功率固體激光器，在保證穩(wěn)定性的同時(shí)有效地提高了信噪比，更加有利于對(duì)極小粒度及極稀體系的測(cè)量(如圖1)。由于光束的良好聚焦，不會(huì)對(duì)體被測(cè)體系造成熱運(yùn)動(dòng)影響，同時(shí)保證了更小的散射體積。

3. 高線性范圍的PMT檢測(cè)器和高靈敏的APD檢測(cè)器根據(jù)客戶實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求選則。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測(cè)量；PMT檢測(cè)器以其良好的線性范圍適合測(cè)量分布較寬的樣品體系。

4. 樣品池溫度控制范圍: -5 to 110℃±0.1℃。

1. 90Plus Zeta電位及納米粒度分析儀

2. 90Plus PALS高靈敏Zeta電位及納米粒度分析儀

3. ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀

1. 高靈敏性，粒度測(cè)量范圍：0.3nm～10μm；

2. 硬件PALS技術(shù)，靈敏度高1000倍，適用于高鹽濃度、有機(jī)溶劑、油相體系；

3. 可作為在線檢測(cè)器與GPC/SEC連接，并通過(guò)SLS、DLS、光強(qiáng)和粒徑監(jiān)測(cè)聚集過(guò)程；

4. 綜合的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測(cè)量軟件；

5. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度(蛋白熔點(diǎn))以及其他參數(shù)變化的趨勢(shì)分析.

1.脂質(zhì)體、生物膠體

2.陶瓷

3.顏料、油墨

4.醫(yī)藥

5.乳劑（食品、化妝品）

6.廢水處理

7.膠乳

8.炭黑

應(yīng)用案例

不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響 不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響 Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

通過(guò)調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）

90Plus PALS 電位分析儀技術(shù)指標(biāo)：

*以樣品為準(zhǔn)