Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了新的ＡＦＭ應(yīng)用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。 仍然以市面上應(yīng)用廣泛的AFM大樣品平臺為基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進行革新。 全新的系統(tǒng)設(shè)計，實現(xiàn)了低漂移和低噪音水平， 現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。 Dimension Icon還配備了Bruker技術(shù)ScanAsyst™(號：US008739309B2   US008646109B2) （自動成像參數(shù)優(yōu)化技術(shù)） ，用戶可以更簡易、更快捷地獲得重復(fù)性更好的數(shù)據(jù)， 并且降低了對客戶操作經(jīng)驗和操作水平的要求。 作為目前配置高的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測任務(wù)。

性能
? *的傳感器設(shè)計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有高的掃描分辨率。
? 極大地降低噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級圖像，在輕敲模式下低于30pm
? 熱漂移速率低于200pm/分鐘，真正獲得無曲圖像無以倫比的效率

? XYZ閉環(huán)掃描器的新設(shè)計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。
? 將十年的研發(fā)經(jīng)驗融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗?zāi)Ｊ健?br>? 高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置

優(yōu)秀的多功能性
? 針尖和樣品之間的開放式空間，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設(shè)計實驗方案，滿足不同研究工作的需求
? 硬件和軟件技術(shù)方面的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)
? 用戶實用程序腳本提供半自動測量和數(shù)據(jù)分析

功能

材料成像:
Icon支持Bruker技術(shù)PeakForce QNM™成像模式，研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時， 還可以對樣品進行納米定量力學性能測試，同時獲得高分辨成像。此技術(shù)適用范圍很廣 (模量從1MPa到50GPa，粘附力從10pN到10μN)， 可以對不同類型的樣品進行表征。

電學表征：
模式，可以以更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實現(xiàn)電學表征。把這些研究與其他技術(shù)結(jié)合起來，比如Dark Lift，可在掃描電容顯微鏡，掃描擴散電阻顯微鏡，扭轉(zhuǎn)共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數(shù)據(jù)。

納米操縱：
可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環(huán)掃描器可實現(xiàn)無壓電蠕變效應(yīng)和超低噪音的精密探針定位，適用于任何納米操縱系統(tǒng)。

加熱和冷卻：
使用AFM不同模式掃描的同時，可實現(xiàn)–35°C到 250°C的溫度控制和熱分析。使用熱探針可以在小于100nm的樣品局部加熱，達400°C 。