一、產(chǎn)品特點(diǎn):
測試晶種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復(fù)性和-一致性、工作穩(wěn)定,具有保護(hù)系統(tǒng)和被測器件的能力,且具有圖示功能。測試儀由計(jì)算機(jī)操控,測試數(shù)據(jù)可存儲打印。除具有點(diǎn)測試功能外,還具有曲線掃描功能( 圖示儀功能)。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定、硬件故障率低,在實(shí)際測試應(yīng)用中各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)均可達(dá)到器件手冊技術(shù)指標(biāo)二、測試參數(shù):
1:二極管
VF、IR. BVR 隨機(jī)附件
2.穩(wěn)壓 (齊納)二極管
VF、IR、BVZ
3.晶體管
Transistor (NPN型/PNP型)
VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT.
VBESAT、VBEON
4.可控硅整流器 (晶閘管)
IGT、VGT、IH、 IL。VTM
5. 場效應(yīng)管
IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS .
6。光電耦合器
VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT
7.三端穩(wěn)壓器
Vo、Sv. ID、IDV .及國標(biāo)要求。