Phasics提供創(chuàng)新的方案來解決*的透鏡表征，包括離軸和軸上的MTF和多種波長下的波前誤差，受益于Phasics的*技術(shù)，即使在大視場條件下也能提供精確的結(jié)果，Phasics的Kale測量儀的特點：
-單次測量，MTF測量高達截止頻率，精度類似于干涉測量法
-高品質(zhì)的準直光源，經(jīng)濟有效的解決方案
-無需重新校準離軸測量，自動對焦，易于校準和多種應(yīng)用
-幾種不同的波長（默認為RGB + IR），在幾個方位角處測量
-全自動測量過程
MTF測量儀可測的參數(shù)
-軸上和軸外MTF，通過焦點MTF
-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤，Zernike多項式
-鏡頭參數(shù)：EFL，F＃，OPD在鏡頭出口瞳孔
-散光，圖像失真，場曲率
-相對照度曲線
MTF測量儀的具體參數(shù)：
參數(shù) | 參數(shù)值 |
光學(xué)設(shè)置 | 有限到無限配置 |
波長范圍 | 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm |
入瞳直徑 | Up to 8.8 mm |
F# | > 1.8 mm |
Flange焦距 | 8 to 30 mm |
焦距范圍 | 5 to 500 mm |
視場角 | Up to ±120° |
MTF on-axis | 準確性 <1%* - 重復(fù)性 <0.5%* |
MTF off-axis | 準確性 <2%** -重復(fù)性 <1%** |
MTF 精確度 | LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
MTF 重復(fù)性 | LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
失真 | 準確性 <0.5% - 重復(fù)性 <0.05% |
場曲率 | 準確性 <5µm - 重復(fù)性 <1µm |
OPD（光程差）軸上 | 準確性 20 nm RMS -重復(fù)性<5 nm RMS |
Kaleo Bench-iR介紹：
Phasics借助Kaleo Bench-iR系列掀起了紅外光學(xué)質(zhì)量控制領(lǐng)域的革命。 這些創(chuàng)新的工作臺可在一口快速采集中同時提供MTF和波前質(zhì)量（像差，WFE）。 它們涵蓋了從1.2 µm至14 µm的整個iR范圍。 其*的技術(shù)具有*的高分辨率和靈敏度，可確保準確表征，同時簡化設(shè)置和調(diào)整。
Kaleo Bench-iR特點和功能：
-沿任何方向
-任何瞳孔大小
-軸上和軸外
-高達截止頻率
-各種對焦方法
-EFL，F(xiàn)#，NA
-畸變
-相位圖的實時過濾
-色差
-任何瞳孔大小的TF MTF
-與設(shè)計比較
Kaleo MTF離軸透鏡測試平臺介紹：
Kaleo MTF離軸透鏡測試平臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF，畸變，EFL等方式來測量像差（澤尼克系數(shù)）。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù)，精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的完整的質(zhì)量控制技術(shù)，具有易用性和多功能性。
Kaleo MTF 離軸透鏡測試平臺特點
-400至1100nm的6個波長
-在不同的方位角的測試
-*自動化
Kaleo-i MTF測量儀介紹：
Kaleo-i MTF測量儀可以表征*的光學(xué)質(zhì)量。 它滿足生產(chǎn)線中符合ISO標準的測量要求。 它測量單焦點和多焦點*（IOL和MIOL）的MTF和屈光度。 利用PHASICS的波前傳感器，可以從像差圖推導(dǎo)出IOL和MIOL設(shè)計的深入特征：功率圖，聚焦MTF，方位角（2D）MTF，表面檢查。 在潮濕和干燥條件下，只需要一種儀器即可控制單焦點和多焦點鏡片的質(zhì)量。幾秒鐘內(nèi)，即可確定大多數(shù)IOL參數(shù)（包括屈光度數(shù)，屈光度，MTF）。 測量結(jié)果高度可重復(fù)且準確。
Kaleo-i MTF測量儀的特點：
-符合ISO 11979-2標準的電源和MTF上通過/失敗顯示
-單個鏡頭和批次自動報告
-試管和模型眼
-快速的計算機輔助對準（僅對中）
