瑞士CSM納米壓痕測(cè)試儀NHT2的儀器簡(jiǎn)介：
瑞士CSM公司在原有NHT納米壓痕測(cè)試儀的基礎(chǔ)上，推出了NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測(cè)試儀 (0.1 - 500mN) 。
NHT2納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性?？蛇m用于有機(jī)或無(wú)機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。
top reference（表面參比測(cè)試技術(shù)）設(shè)計(jì), NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。
NHT2納米壓痕測(cè)試儀同時(shí)具備了納米測(cè)試系統(tǒng)所具有的豐富的測(cè)量模式，如恒應(yīng)變速率加載、視頻定位壓入、沖擊模式等。通過(guò)納米力學(xué)平臺(tái)的設(shè)計(jì)，客戶可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)。如AFM原子力顯微鏡同步成像、微米壓痕模塊、微米或納米劃痕模塊、微納米摩擦磨損模塊、變溫、濕度控制、真空環(huán)境等等。
技術(shù)參數(shù)：
載荷范圍：0-500mN
載荷分辨率：40nN
大壓入深度：200um
位移分辨率： 0.004nm
NHT2納米壓痕測(cè)試儀的主要特點(diǎn)：
特點(diǎn)
參比環(huán)設(shè)計(jì)-實(shí)時(shí)消除大部分熱漂移
帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)
試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無(wú)需用膠粘結(jié)試樣）
金相顯微鏡觀測(cè)系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)軟件包，自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)獲取、儲(chǔ)存、分析等
豐富、靈活的擴(kuò)展空間
選件
其它力學(xué)測(cè)試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）
真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制
原子力顯微鏡成像系統(tǒng)
環(huán)境隔離罩
