J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）進行有效的時間分辨ICP-MS信號處理，簡單的定量分析，核心是緊湊而堅固的激光源，J200 Femto iX具有硬核的硬件設(shè)計，包括智能運輸氣體控制，自動樣品高度調(diào)節(jié)，高分辨率3D樣品臺，創(chuàng)新的樣品池和LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）附加功能，主體包括激光源、激光束傳輸光學(xué)器件、Flex樣品室、氣體流量控制系統(tǒng)以及LIBS檢測器。為了節(jié)省寶貴的實驗臺空間，激光電源模塊可以從主機中分離出來，放置在實驗臺下面。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
1、高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預(yù)覽，支持光學(xué)變焦；
2、智能運輸氣體控制，自動調(diào)整樣品高度；
3、固態(tài)鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析；
4、雙路數(shù)字流量控制器，可選第三個流量控制器（用于氮氣或其他氣體）；
5、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送。
產(chǎn)品特點：
1、高分辨率3D樣品臺，創(chuàng)新的樣品池；
2、負(fù)擔(dān)得起的費用，維護成本低；
3、智能運輸氣體控制，自動調(diào)整樣品高度；
4、高精度，準(zhǔn)確度和靈敏度，緊湊的臺式設(shè)計。
J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）生產(chǎn)于美國ASI公司，是一款專門對玻璃以及樣品進行研究的等離子質(zhì)譜儀，可進行有效的時間分辨ICP-MS信號處理，簡單的定量分析，2D/3D元素成像和樣品存取，該設(shè)備采用的是緊湊的臺式設(shè)計，超快激光采樣技術(shù)，可在幾秒內(nèi)檢測出樣品的詳細參數(shù)，使用起來非常的方便，分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以確定可以檢測的質(zhì)量并確定檢測限（LOD），該設(shè)備擁有簡易的操作方式和便捷的安裝流程以及非常簡單操作模式，使用起來更方便。
