J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設(shè)立靈活的采樣方式，用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式，具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體按預(yù)定的方式達到設(shè)定值，同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)，防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
1、與測量樣品相匹配的標準物質(zhì)；
2、J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下
3、剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性；
4、J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應(yīng)；
5、大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產(chǎn)生峰值；
6、J200施加高能激光的時間比長脈沖系統(tǒng)短，短達1/10000；
7、J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm。
基本信息：
1、認證：CE認證；
2、LIBS檢測器：
3、Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器；
4、自動X-Y軸：100 mm X 100 mm 行程范圍，分辨率0.2微米；
5、延保：可簽署多年質(zhì)保和服務(wù)協(xié)議；
6、供電要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A；
7、可選項： LA升級為Tandem系統(tǒng)。
J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng) 采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器，10個脈沖，脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部，制定完成的處方，以后也可以調(diào)用。多個處方可編制成組，自動順序執(zhí)行，使測量工作高度自動化，采用∫ Integra的模式工具也可選定，并分析其元素或同位素。
