ZoomOptics 得到的測量結果更準確，減少測量誤差LFA 467 HyperFlash – 閃射法導熱儀

技術的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測器的檢測范圍，從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測量結果的精度。

*的采樣頻率（2MHz），特別適合于薄膜樣品

薄膜樣品及高導熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率，來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率，這是 LFA 系統(tǒng)*的。

• 溫度范圍：-100°C ... 500°C，單一爐體
• 非接觸式測量，IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程
• 數(shù)據(jù)采集速率：高達 2MHz（包括半升溫信號檢測，及 pulse mapping 技術）-- 對于高導熱及薄膜樣品，采樣時間（約為半升溫時間 10 倍）可低至 1ms，樣品厚度較薄可至 0.01 mm 以下（取決于具體的導熱系數(shù)）
• 熱擴散系數(shù)測量范圍：0.01 mm²/s ... 2000 mm²/s
• 導熱系數(shù)測量范圍：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
• 樣品尺寸： 
  - 直徑 6 mm ... 25.4 mm（包括方形樣品） 
  - 厚度 0.01 mm ... 6 mm（樣品的厚度要求取決于不同樣品的導熱性能）
• 16 個樣品位的自動進樣器
• 20 多種支架類型
• 豐富的測量模式，適應各種類型的樣品。如各向異性材料，多層模式分析，薄膜，纖維，液體，膏狀物，粉末，熔融金屬，壓力下的測試，等等。
• Zoom Optics 優(yōu)化檢測器的檢測范圍（技術）
• 保護的 pulse mapping 技術（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脈沖寬度修正，可以提高比熱值的測量精度
• 氣氛：惰性、氧化性、靜態(tài)/動態(tài)、負壓
• 遵從如下標準: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.