Zeta 電位及其測定分析儀是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù)，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

技術(shù)特點

1)采用的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。

2)提供數(shù)據(jù)快速準確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，Zeta電位將*改變);

3)該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導、溫度等指標。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；

4)堅固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨立的容器中；

5)自動滴定法用于簡單的IEP測量；

6)樣品可被強烈攪拌或混合，因此不會產(chǎn)生沉淀物；

7)高頻電場采用非常短的脈沖，因此樣品測量時不會產(chǎn)生錯誤；

8)可實時測量實際樣品；

9)不使用光學技術(shù)，因此可以在任何pH值下分析固體、不透明或半透明樣品；

10)可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；

11)該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的

測量原理：

    Zeta 電位及其測定分析儀采用電聲學原理來測量顆粒的電動特性。在分散系中加入1個高頻的電場，則帶電顆粒相相應電場內(nèi)進行電泳。如果在顆粒與液體之間產(chǎn)生1個密度差，則這種運動會產(chǎn)生1個交互的聲波。采用該電場和對應的聲波技術(shù)可對樣品進行無干擾的測量，不會破壞樣品的特性。

    其他技術(shù)如微量電泳和電泳光散射技術(shù)，須要樣品被稀釋，須要將原始濃度的樣品放大稀釋好幾倍。因此，*終用戶須在人為的狀態(tài)下分析顆粒樣品的特性，而不是獲得實際狀態(tài)下樣品的真實特性描述。并且，嚴格的光學聚焦和擴展調(diào)整來適應靜態(tài)的層裝樣品，使得微量電泳技術(shù)變得非常煩瑣，而大的直流電場可導致樣品的PH發(fā)生漂移。如果采用ZetaFinder型電位分析儀，則這些問題將不復存在。

 技術(shù)參數(shù)

1.適用粒度范圍：0.001-100μm

2.樣品體積：0.18～1.5ml

3.pH值測量范圍：1-14

4.電導率范圍：0-20 S/m

5.電泳遷移率范圍：10-10～10-7m2 /V.s

6.溫度控制：-5～110℃, ±0.1℃

7.電場強度：0～3.2 kV/m

8.電極：永性開放式電極，電極材料純鈀