牛津進(jìn)口孔面銅測厚儀CMI700適用于:線路板的各個流程、覆銅板、銅箔等厚度的測量,線路板的生廠商和采購商等。配備ETP探頭采用電渦流原理測量孔銅厚度,配備SRP探頭采用微電阻原理測量面銅厚度
ETP探頭規(guī)格:
應(yīng)用電渦流測試技術(shù)。測量時利用探頭釋放出電磁波,當(dāng)磁場切割金屬層時會發(fā)生磁場變化,通過計算此變化量計算出孔壁銅厚度。測量不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下,同樣能夠良好工作。另外,探頭采用溫度補償技術(shù),即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能測量孔銅厚度。
準(zhǔn)確度:5%,參考標(biāo)準(zhǔn)片
分辨率:0.01 mils (0.25μm)
測量厚度范圍:0.08 -- 4.0 mils (2 - 102μm)
孔zui小直徑:Φ35 mils (Φ899μm)
牛津進(jìn)口孔面銅測厚儀CMI700
探頭參數(shù):
l 準(zhǔn)確度:5%,參考標(biāo)準(zhǔn)片
l 精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %,電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.3 %
l 分辨率:0.1μm≥10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm,0.01mils≥1 mil,0.001mils<1mil
l 厚度測量范圍:化學(xué)銅:0.25μm–12.7μm(10μin–500μin)
電鍍銅:2.5μm–254μm(0.1mil–10mil)
l 線性銅線寬范圍:203μm–7620μm(8mil–300mil
l 工作特點:應(yīng)用*的微電阻測試技術(shù)。系繩式探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負(fù)極;測量時,電流由正極到負(fù)極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換,為牛津儀器產(chǎn)品。探頭的照明功能和保護(hù)罩方便測量時準(zhǔn)確定位。
牛津進(jìn)口孔面銅測厚儀CMI700主機參數(shù):
l 存 儲 量:8000字節(jié),非易失性
l 尺 寸:長×寬×高292.1×270×140mm
l 重 量:2.79Kg
l 電 源:AC220V
l 單位轉(zhuǎn)換:通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
l 單 位:可選mils 、μm、μin、mm、in或%為顯示單位
l 接 口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機或計算機
l 顯 示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏,480(H)×32(V)象素
l 統(tǒng)計顯示:測量個數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,平均值,zui大值,zui小值
l 統(tǒng)計報告:需配置串行打印機或PC電腦下載,存儲位置,測量個數(shù),銅箔類型,線形銅線寬,測量日期/時間,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,方差百分比,準(zhǔn)確度,zui高值,zui低值,值域,CPK 值,單個讀數(shù),時間戳,直方圖
l 圖 表:直方圖,趨勢圖,X-R 圖
牛津進(jìn)口孔面銅測厚儀CMI700以下配置:
型號 | CMI760 | CMI760E | 備注 |
名稱 | 臺式面銅測厚儀 | 臺式孔、面銅測厚儀 |
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標(biāo)配 | l 700 SERIES主機及證書 l SRP-4面銅探頭(內(nèi)含SRP-4探針) l NIST認(rèn)證的面銅標(biāo)準(zhǔn)片及證書 | l 700 SERIES主機及證書 l SRP-4面銅探頭(內(nèi)含SRP-4探針) l NIST認(rèn)證的面銅標(biāo)準(zhǔn)片及證書 l ETP孔銅探頭 l NIST認(rèn)證的ETP標(biāo)準(zhǔn)片及證書 | SRP-4探針又稱水晶頭 |
選配 | l SRG軟件:數(shù)據(jù)不可編輯 l SRGD軟件:帶數(shù)據(jù)庫 |
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