摘要光纖可調衰減器是專用于手動調節(jié)光纖光路衰減的產品，衰減范圍大，調節(jié)精度高，衰減值穩(wěn)定，結構緊湊便于集成。 另可提供電控的模塊式光衰減器和臺式光衰減器儀表。【產品特點】寬衰減范圍高精度 低插入損耗高回損波長/偏振不敏感性尺寸緊湊性能穩(wěn)定可靠環(huán)境穩(wěn)定性好【產品應用】傳感器...

摘要 如果有任何關于ZENDEX移動千斤頂小車G6313的疑問，請隨時與我們電聯，我們將盡全力解決您的問題。

摘要 當超短脈沖激光透過材料傳輸時（即使是簡單的玻璃），由于群延遲色散（GDD）它們會在時間上展寬。紅光的傳播速度比藍光的傳播速度快，從而延長了脈沖（變?yōu)檫泵}沖），這是我們需要對其進行測量的原因之一。BOA單棱鏡飛秒超短脈沖壓縮器

摘要 錦正茂實驗室設備 JZM-D30室溫探針臺該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙極性恒流電源搭配使用戶，可以磁場的高穩(wěn)定性。

摘要 Off-Axis Parabolic Mirrors，離軸拋物鏡，拋物面鏡，THz聚焦，太赫茲拋物鏡，離軸拋物鏡Off-Axis Parabolic Mirror

摘要泰克Tektronix P6701B 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負...

摘要泰克Tektronix P6703B 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負...

摘要泰克Tektronix P5960 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負載...

摘要泰克Tektronix TLP058 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負...

摘要泰克Tektronix P5910 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負載...

摘要泰克Tektronix TAP4000 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的...

摘要泰克Tektronix P7240 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負載...

摘要泰克Tektronix TAP3500 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的...

摘要泰克Tektronix TAP2500 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的...

摘要泰克Tektronix TAP1500 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的...

摘要泰克Tektronix P6245 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負載...

摘要泰克Tektronix P6243 探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 （~1 pF） 的探頭以降低探頭對電路的負載...

摘要泰克Tektronix P6015A 探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于 40 kV 以地參考的信號。但是，某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量。用戶應選擇較低輸入電容指標 （&...

摘要泰克Tektronix TPP0850 探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于 40 kV 以地參考的信號。但是，某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量。用戶應選擇較低輸入電容指標 （< 4 p...

摘要泰克Tektronix P5150 探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于 40 kV 以地參考的信號。但是，某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量。用戶應選擇較低輸入電容指標 （< 4 pF） 的探頭降低探頭...

摘要泰克Tektronix P5100A 探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于 40 kV 以地參考的信號。但是，某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量。用戶應選擇較低輸入電容指標 （< 4 pF） 的探頭降低探頭對電路的負載影...

摘要泰克Tektronix P5122 探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于 40 kV 以地參考的信號。但是，某些單端探頭設計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量。用戶應選擇較低輸入電容指標 （ 4 pF） 的探頭降低探頭對電路的負載影響，因為輸入電容較低的探頭...

摘要 泰克Tektronix TPP1000 探頭 同類帶寬高至 1 GHz低至 3.9 pF 的同類輸入電容，可將探頭的負載影響降至低同類的輸入電容，在連接較長地線時可將性能損失降至低自動探頭補償，無需使用補償螺絲刀

摘要泰克Tektronix P6139B 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量...

摘要泰克Tektronix P5050B 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量...

摘要泰克Tektronix TPP0500B 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模...

摘要泰克Tektronix TPP0502 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測...

摘要泰克Tektronix TPP0250 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測...

摘要泰克Tektronix P3010 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，...

摘要泰克Tektronix P6101B 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量...

摘要泰克Tektronix P2221 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，...

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摘要泰克Tektronix TPP0051 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 TriMode™ 架構只需單個連接即可進行差分、...

摘要泰克Tektronix P7633 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 TriMode™ 架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化...

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摘要泰克Tektronix P7720 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 TriMode™ 架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。...

摘要泰克Tektronix P7625 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 TriMode™ 架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 Tr...

摘要泰克Tektronix P7516 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 TriMode™ 架構只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！確保您看到所有細節(jié)。泰克提供的 TriMod...

摘要 泰克Tektronix P7716 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！

摘要 泰克Tektronix P7513A 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！

摘要 泰克Tektronix P7713 探頭 只需單個連接即可進行差分、單端和共模測量，簡化了測量采集！