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光譜儀上照式和下照式區(qū)別僅僅從最初的原理來說,上照式不容易被粉末污染(粉末不容易往上飛),下照式容易掉粉末下來到測量室、還可能污染到鈹窗。下面和一六儀器一起了解光譜儀上照式和下照式區(qū)別及優(yōu)勢。
上照式光譜儀就是射線管在樣品上方,樣品分析面向上。這樣的優(yōu)點(diǎn)在于分析粉末壓片、疏松粉末和液體樣品時(shí),樣品破損不會(huì)損壞X射線管,但上照式結(jié)構(gòu)需要一套復(fù)雜的機(jī)械進(jìn)樣裝置。上照式熒光分析儀樣品到X射線管的距離每次都需要定位,如果出現(xiàn)誤差的話會(huì)對分析結(jié)果產(chǎn)生很大的影響。
光譜儀上照式優(yōu)勢:
1.在超大樣品,異形件,密集多點(diǎn)檢測或自動(dòng)檢測多個(gè)小部位時(shí),上照式更適用;
2.在滿足客戶定制服務(wù)上,上照式滿足性更足,可將各模塊(如全自動(dòng),AI影像識別等)均可搭配集成應(yīng)用上,滿足使用同時(shí)給儀器加分,差異化國內(nèi)同行;
下照式光譜儀X射線管在分析樣品下方,樣品分析面向下,這樣不需要復(fù)雜的進(jìn)樣裝置,樣品到X射線管的距離固定,下照式結(jié)構(gòu)更加有利于空間的利用,但下照式結(jié)構(gòu)問題在于破損的樣品會(huì)污染X射線管,造成較大的損失。
光譜儀下照式優(yōu)勢:
1.在絕大多數(shù)電鍍工藝,上下照式均能滿足,下照式有價(jià)格優(yōu)勢;
2.在均能解決客戶問題基礎(chǔ)上,根據(jù)客戶預(yù)算或行業(yè)特性(比如緊固件),非大件異形,匹配產(chǎn)品下照式更有優(yōu)勢;
3.后期維保方面,下照式結(jié)構(gòu)精簡、小而輕便,維護(hù)成本更低。
以上就是一六整理分享的關(guān)于光譜儀上照式和下照式區(qū)別及優(yōu)勢。想了解更多相關(guān)資訊,歡迎持續(xù)關(guān)注。
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