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X射線熒光光譜儀在我們生產(chǎn)的各個領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,對于企業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量的保障都有重要作用。X射線熒光光譜儀也經(jīng)歷了長時間的發(fā)展過程,在發(fā)展的過程中不斷突破技術(shù)瓶頸,變得越來越好。那關(guān)于X射線熒光光譜儀的發(fā)展歷史,你了解多少呢?跟著X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下吧。
1895年德國物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線;
1969年美國實驗室研制出EDXRF;
1990年北京中產(chǎn)電子、上海硅酸鹽研究所、成都地質(zhì)學(xué)院、西安262廠、西安海通原子能研究所、重慶地質(zhì)儀器廠研制EDXRF;
1997年德國菲希爾在中國注冊公司銷售EDXRF測厚儀;
2000年英國牛津儀器在定型自有FP算法;
2001年英國牛津在中國注冊公司銷售EDXRF測厚儀;
2003年德國費希爾儀器在定型自有FP算法;
2005年日本精工儀器在中國注冊公司銷售EDXRF測厚儀;
2009年國內(nèi)儀器廠商海外購買FP算法推出EDXRF測厚儀;
2017年一六儀器全新EFP算法成熟,推出新一代EDXRF測厚儀;
一六儀器發(fā)展歷程:
2009年一六儀器團隊成員根據(jù)多年的EDXRF研發(fā)及應(yīng)用經(jīng)驗,重新搭建更新一代算法、結(jié)構(gòu)、部件及控制總成系統(tǒng)。
2012年算法模型和新型搭建成功,部件開始投入市場。
2015年EFP核心算法的軟件進行整機測試其最小測量面積、變焦、及復(fù)雜多層的能力。
2017年12月正式發(fā)布新型測厚儀XTU系列及EFP算法軟件。
至今相繼推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多種儀器型號,功能包括涂鍍層分析、Rohs檢測、地質(zhì)地礦全元素分析、古董珠寶貴金屬檢測。
以上就是X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容,如果大家想要了解更多關(guān)于X射線熒光光譜儀的內(nèi)容,歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。
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