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　　X熒光光譜儀能夠對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析，近些年在眾多領域都有廣泛的應用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。

　　1、莫塞萊定律

　　臺式光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復雜的綜合性故障，對于解決這種故障應該先從比較容易解決的故障入手。

　　2、布拉格定律

　　該定律是一種可以反映晶體衍射基本關系的理論推導定律，同時，布拉格定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光*分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。

　　3、比爾-朗伯定律

　　比爾-朗伯定律是反應樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。

　　以上就是X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解更多關于X熒光光譜儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務。公司產(chǎn)品廣泛的應用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。