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 Smart-1 Auto Curve Tracer
測(cè)試通道: 基本64ch,  標(biāo)準(zhǔn)256通道，*可擴(kuò)充至4096ch
機(jī)臺(tái)功能: 元器件開短路量測(cè)以及良品不良品比對(duì)
   元器件IV曲線量測(cè)以及良品不良品比對(duì)
   元器件漏電量測(cè)以及比對(duì)
   元器件unpower leakage以及比對(duì)
   主要應(yīng)用于IC失效分析領(lǐng)域

量測(cè)方式: 有手動(dòng)量測(cè)模式,可搭配探棒
   計(jì)算機(jī)設(shè)定, 自動(dòng)量測(cè)   IC 每一Pin 之 I / V Curve
分析時(shí)間: 因?yàn)椴捎?jì)算機(jī)化控制, 所以量測(cè)時(shí)間很快.
快檢模式: 具有All to Pin & Pin to All 之快檢模式,
    所以可以快速篩檢出有Open/Short之Pin腳
I / V Curve量測(cè)比對(duì)功能: 可量取一Golden Sample之I / V  Curve , 然后與未知之待測(cè)sample做比對(duì),在同一界面可同時(shí)比對(duì)上百條IV曲線，也可同時(shí)顯示上百條IV曲線，可快速篩出有問題之sample,非常便利!
SMU : 標(biāo)準(zhǔn)配備具有 3 組, 所以可以量測(cè)IC 在Bias    狀態(tài)下之Powered Curve Tracer & Powered Leakage Test.
即量測(cè)IO對(duì)G 曲線時(shí)，可利用其它2組SMU對(duì)VCC或RESETpin持續(xù)偏壓
SMU1損壞,SMU2自動(dòng)替補(bǔ)
分析報(bào)告產(chǎn)出: 量測(cè)之結(jié)果 可直接產(chǎn)出客戶所需之報(bào)告格式, 并可透過網(wǎng)絡(luò)直接分享給相關(guān)部門來討論.
IV曲線取點(diǎn)數(shù)量：無限制，間隔0.0001V-0.5V可設(shè)定，間隔時(shí)間可設(shè)定。
IV比對(duì)方式：
可采用傳統(tǒng)I/O對(duì)G或VCC對(duì)I/O,也可采用ALL to pin或pin to all,這種情況下描繪的IV曲線就是二極管曲線，良品不良品比對(duì)結(jié)果永遠(yuǎn)在1%范圍內(nèi)，容易分辨良品不良品
量產(chǎn)測(cè)試: 可外接Handler, 做大量生產(chǎn)測(cè)試
測(cè)試Program : 每個(gè)產(chǎn)品之測(cè)試Program皆可儲(chǔ)存下來, 下次要再分析時(shí), 即可開啟馬上進(jìn)行測(cè)試 !
Failure analysis 經(jīng)驗(yàn): 敝司除了機(jī)臺(tái)銷售之外, 亦有RA/FA Lab. Service之相關(guān)經(jīng)驗(yàn), 可提供客戶更高之附加價(jià)值!
應(yīng)用領(lǐng)域：主要應(yīng)用于芯片來料檢測(cè)及失效分析
良好的銷售實(shí)績(jī): 力成、聯(lián)測(cè)、育霈、無錫安盛、天水華天x 2set、
沛頓（kinston）、SanDisk，精材科技、艾克爾、中芯、Microchip(Thailand)、NEC、Flextronix、盛群、北京中星微電子、展訊通訊、瑞薩半導(dǎo)體x 2、創(chuàng)銳訊通訊
Advanced Silicon、、海思半導(dǎo)體、珠海炬力、Microsoft(X-BOX)、廣州5所，航天201所，13所，航天九院，電子四所失效分析
蘇州三星半導(dǎo)體（Samsung）、宜特科技(中國臺(tái)灣)x 3set、上海宜特x 3set、南茂微電子、
深圳宜智發(fā) x 2set、東莞三星電機(jī)、、英業(yè)達(dá)、威達(dá)電、群豐、臺(tái)達(dá)電子、中達(dá)(江蘇)、西門子(南京)、閎康(中國臺(tái)灣)x 2set, 閎康(上海)x 1set,臺(tái)達(dá)電(東莞) , 深圳華測(cè)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室, 聚成科技,中科院微電子所,豪威科技,華為海思，華為科技，富士康，上海宏達(dá)，
日月新,京信通訊,華為通訊, 日月光(中壢)x 2set, 超豐電子,勝開,
記憶科技(深圳), 北京航天研究所..等中國大陸三百臺(tái)之銷售實(shí)績(jī).

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