半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺(tái)
在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實(shí)效分析過(guò)程中,經(jīng)常要量測(cè)內(nèi)部的電參數(shù),由于制成的越來(lái)越低,沒有辦法用簡(jiǎn)單的萬(wàn)用表、示波器的表筆來(lái)探測(cè)信號(hào)。手動(dòng)分析探針臺(tái)能很好的幫助工程人員實(shí)現(xiàn)微小位置的電學(xué)參數(shù)測(cè)試。Advanced在中國(guó)推出手動(dòng)分析探針臺(tái)
型號(hào): PW-400
規(guī)格:
chuck尺寸100mm
X,Y移動(dòng)行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)2~4顆
適用領(lǐng)域:4寸Wafer,如晶圓廠、LED、學(xué)術(shù)單位等
型號(hào): PW-600/PW-800
規(guī)格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程150mm(200mm)
chuck粗調(diào)升降8mm,微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:6寸/8寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
RF高頻探針臺(tái)
東、南、西、北測(cè)試臂
搭配美國(guó)GGB高頻測(cè)試頭
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探針材料:BeCu/Tungsten