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榮進化學(xué)EISHIN滲透試片ASME型

滲透試片JIS1型,ISO1型,JIS2型,ISO2型,JIS3型,ASME鋁試件

滲透測試面板TAM型；磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試片JIS Z 2320-1,JIS A型,JIS C型

超聲波探傷用標(biāo)準(zhǔn)試件JIS Z 2345-1,JIS Z 2345-4,G型,N1型,A1型,A2型,A3型

Hoffman TAM 面板是一種滲透測試面板，用于 ASTM E 1417 定義的系統(tǒng)檢查。它已獲得普惠公司（TAM146040）和勞斯萊斯公司（RRP-58003）的認可，并因其高質(zhì)量和可靠性而被世界各地的航空相關(guān)公司所使用。您可以選擇兩種類型：P&W TAM 146040-1 Polish（具有鏡面表面）和 P&W TAM 146040-2 Grit（具有噴砂表面）。標(biāo)配 5 種說明圖案中每一種的單獨照片、帶有整個面板照片的測試報告（實際尺寸照片）以及帶有特殊泡沫的透明盒。

TAM面板是根據(jù) ASTM E 1417標(biāo)準(zhǔn)使用的特定測試面板。ASTM E 1417是 ASTM International（美國測試與材料協(xié)會）發(fā)布的名為“液體滲透測試標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)"的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)提供了使用液體滲透檢測方法檢查材料的指南。

TAM代表“測試附件材料"，TAM面板通常用于評估液體滲透劑檢測表面缺陷和異常區(qū)域的靈敏度和性能。這些面板有助于評估和鑒定滲透性材料。

JIS A型、C型標(biāo)準(zhǔn)試件是評價磁粉探傷性能和檢測金屬零件和結(jié)構(gòu)表面微小缺陷和裂紋的工具，是提高檢測結(jié)果準(zhǔn)確性的技術(shù)。

通過使用試件，可以客觀地評價磁粉探傷的靈敏度和準(zhǔn)確性。還可以研究影響磁粉檢測性能的因素。例如，對所使用的裝置的性能、磁粉、試驗液體、磁場的強度和方向、試驗操作的充分性等進行評價。

A型標(biāo)準(zhǔn)樣本用于可靠地指示特定缺陷的方向。如果缺陷在特定方向，則磁性顆粒的圖案將是特定圖案。通過清晰地顯示該圖案，可以保持探傷的準(zhǔn)確性。在測試片中，調(diào)整磁化方法、磁化電流的值、磁性粒子的施加方法、測試液體中磁性粒子的濃度等。

該樣本由一塊純鐵制成，一側(cè)有凹槽。試件根據(jù)槽深、板材材質(zhì)、厚度等分為多種類型。

超聲波探傷用標(biāo)準(zhǔn)試件（JIS Z 2345-1～JIS Z 2345-4）概述：

測量反射體位置所需的時基和測量范圍的調(diào)整：用試樣調(diào)整超聲波探傷儀的時基，以精確測量反射體的位置。此外，通過適當(dāng)調(diào)整測量范圍，優(yōu)化探傷范圍。

反射器回波高度測量和缺陷靈敏度調(diào)整的必要調(diào)整：使用樣本，調(diào)整超聲波探傷儀設(shè)置以準(zhǔn)確測量反射器的回波高度。另外，通過調(diào)整探傷靈敏度，可以更可靠地檢測微小的缺陷和異常。

探傷儀的特性和性能的檢驗以及探傷儀檢驗所需的性能特性的測量：使用試件，檢查超聲波探傷儀的特性和性能，以確認其功能是否正常。性能特征測量用于評估設(shè)備性能并根據(jù)需要進行調(diào)整或維修。

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