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NRI-100紅外光譜折射率計(jì)分光計(jì)器儀器

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時(shí)間:2021-06-01 12:44:44瀏覽次數(shù):1309次

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NRI-100紅外光譜折射率計(jì)
NRI-200色散紅外光譜評估系統(tǒng)
OD-10高濃度測定用分光光度計(jì)
ART-25光學(xué)元件測量裝置
臺式真空紫外光度計(jì)

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PRS-1受光元件響應(yīng)速度測量裝置

是測量光傳感器等受光元件的響應(yīng)速度的裝置。這是表示生成的載波能多快取出外部電路的值,以上升時(shí)間/下降時(shí)間表示。

下降時(shí)間是脈沖輸入光的值10%→90%上升時(shí)間,上升時(shí)間是脈沖輸入光的值90%→10%下降時(shí)間。裝置主要由脈沖LD、樣品室、DC電源、示波器、控制PC構(gòu)成,通過安裝在控制PC上的軟件對各部分進(jìn)行控制及測定。

 

LBC-2激光誘導(dǎo)電流測量裝置

本裝置是各種太陽能電池和光電轉(zhuǎn)換元件(SiPD、CCD、CMOS)的光電流分布測定裝置。

采用LBICLaser Beam Induced目前態(tài)】的測定方法。

搭載標(biāo)準(zhǔn)波長520nm激光器,將樣品移動(dòng)到XY,測量短路電流(Isc)??臻g分辨率約為10達(dá)到m

最多50×可以測量50mm的樣品。

特別是由鈣鈦礦太陽能電池等旋轉(zhuǎn)鍍膜法制作的太陽電池,在樣品面的中心和端部存在均勻性不同的問題,適合評價(jià)這樣的樣品。另外,在SiPDCCD、CMOS等領(lǐng)域,也適用于涂層材料等的均勻性評價(jià)。

 

BIP-FETS FET測量裝置

是評價(jià)場效應(yīng)晶體管特性的裝置。從2個(gè)源極向樣品施加源極(VS-漏極(VD)間電壓、源極(VS-門(VG)電壓。

可以測量漏極電流,進(jìn)行ID–VSD特性測量和IDVSG特性測量。根據(jù)測量的數(shù)據(jù),可以算出移動(dòng)度和閾值電壓。

另外,還計(jì)算漏極電流的接通斷開比。

規(guī)格:

待測樣品 FET(接觸頭等)

施加電壓控制 源極-漏極間電壓、源極-柵極間電壓

施加電壓范圍 0±200V

最小施加電壓 ±10µV

施加電壓間隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V

 

 

 

 

 

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