一、產(chǎn)品簡介

    HDYM-II便攜式絕緣子鹽密度測試儀用于電力系統(tǒng)防污閃檢測，是測量絕緣子表面等值附鹽密度（以下簡稱“鹽密”）的測量儀器，同時(shí)還可以測量溶液的電導(dǎo)率和溫度。整機(jī)以其測量精度高、測量范圍大、使用方便等特點(diǎn)廣泛地應(yīng)用于電力、教學(xué)、科研及其它相關(guān)行業(yè)。

    污穢等級的劃分和污穢等級分布圖的繪制是防污閃工作的基礎(chǔ)，準(zhǔn)確的污穢等級分布圖是選擇輸、變電設(shè)備電瓷外絕緣爬距的依據(jù)。絕緣子表面等值附鹽密度值是判斷電瓷外絕緣污穢狀況嚴(yán)重程度的定量數(shù)據(jù)，是劃分污穢等級和繪制污區(qū)圖的重要依據(jù)之一。因此，鹽密測量工作對電力系統(tǒng)安全運(yùn)行有著重要的意義。

參照標(biāo)準(zhǔn)：

    GB/T16434 – 1996《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污穢分級及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》

    GB/T16434-200X《污穢條件下高壓絕緣子的選擇和尺寸確定第1部分：定義、信息和一般原則》

    Q/GDW152-2006《高壓架空線路和發(fā)電廠、變電所環(huán)境污區(qū)分級及外絕緣選擇標(biāo)準(zhǔn)》

相關(guān)術(shù)語：

    1、參照盤形懸式絕緣子 reference cap and pin insulator

       XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子（根據(jù)GB/T 7253），通常7~9片組成一串用來測量現(xiàn)場污穢度。

    2、爬電距離 creepage distance

        在兩個(gè)導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的短距離。

        注：水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認(rèn)為是爬電距離的構(gòu)成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層，則該部分應(yīng)認(rèn) 為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應(yīng)包括在爬電距離內(nèi)。

    3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance（USCD）

        絕緣子的爬電距離與其兩端承擔(dān)的運(yùn)行電壓（對于交流系統(tǒng)，為相電壓）之比，mm/kV。

    4、附鹽密度 salt deposit density（SDD）

        人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）上NACL總量除以表面積，mg/cm²。

    5、等值附鹽密度 equivalent salt deposit density（ESDD）

        絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，mg/cm²。

    6、不溶物密度（簡稱灰密） non soluble deposit density（NSDD）

        絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積，mg/cm²。

    7、現(xiàn)場等值鹽度 site equivalent salinity（SES）

        根據(jù)GB/T 4585進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)時(shí)的鹽度。用該鹽度試驗(yàn)，在相同絕緣子和相同電壓下，產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場自然污穢條件下的泄露電流基本相同。

    8、現(xiàn)場污穢度 site pollution severity（SPS）

        在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間段內(nèi)測量到的污穢嚴(yán)重程度ESDD/NSDD或SES的大值。

    9、現(xiàn)場污穢度等級 site pollution severity class

        將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS的分級。

    10、帶電系數(shù)K1 energy coefficient K1

        同形式絕緣子帶電所測ESDD/NSDD（SES）值與非帶電所測ESDD/NSDD（SES）值之比，K1一般為1.1~1.5。

二、功能特點(diǎn)

    (1)具有量程自動(dòng)切換功能，測量速度快（2s/次）。

    (2)測量范圍大，鹽密范圍0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2。

    (3)中英文界面可自主切換。

    (4)采用2.8寸真彩液晶屏幕。

    (5)可直接顯示鹽密度、污穢等級、統(tǒng)一爬電比距。

    (6)自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，直接顯示20℃時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)率和等值附鹽（ESDD）；

    (7)具有自動(dòng)祛除原溶液含鹽量的功能，降低了對清洗液的要求。

    (8)自動(dòng)將不帶電測量的鹽密度（ESDD）轉(zhuǎn)換為帶電測量的鹽密度（ESDD）。

    (9)可存儲(chǔ)10萬組記錄，并可將記錄保存至SD卡在電腦上讀取。

    (10)可查閱、刪除單條記錄，也可刪除所有記錄。

    (11)內(nèi)置大容量充電鋰電池（2600mAh），適合野外現(xiàn)場使用。

三、產(chǎn)品參數(shù)

    3.1 測量范圍：

                鹽密：0.0001mg/cm2～9.9999mg/cm2（按X-4.5型絕緣子為準(zhǔn)）

                測量溫度：0℃～100℃

                測量電導(dǎo)率：0～200000μs/cm

    3.2 基本誤差：

               測量鹽密：分辨率0.0001 mg/cm2

               滿量程精度：±2%

               測量溫度：分辨率0.1℃，精度±0.5℃

               測量電導(dǎo)率：分辨率0.01μs/cm

    3.3 環(huán)境溫度：0℃～60℃。

    3.4 環(huán)境濕度:  <90%。

    3.5 體積與重量

              手持主機(jī)尺寸：長210mm*寬100mm*厚36mm。

              整機(jī)機(jī)箱尺寸：長335mm*寬260mm*高130mm。

              手持主機(jī)重量：約0.5Kg。

              整機(jī)重量：約2.5Kg。

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試驗(yàn)環(huán)境溫度不低于5℃；相對濕度：≯80%；5.2.2試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)無交叉施工、無振動(dòng)、無強(qiáng)電、磁場干擾等妨礙試驗(yàn)的工作。5.2.3高壓試驗(yàn)時(shí)，在試驗(yàn)區(qū)域內(nèi)不得有造成其他人危險(xiǎn)的因素。5.2.4電源電壓波動(dòng)幅度不超過±5%；電源電壓的畸變率不超過5%，試驗(yàn)電源頻率與額定頻率之差應(yīng)在額定頻率的1%以內(nèi)。5.3試驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作

5.3.1 制定試驗(yàn)技術(shù)方案，進(jìn)行技術(shù)交底。5.3.2 布置試驗(yàn)場地，對正常試驗(yàn)和特殊性試驗(yàn)必須有試驗(yàn)接線圖。

5.3.3 試驗(yàn)接線后需經(jīng)第二人按結(jié)線圖復(fù)查，以保證接線正確。5.3.4 試驗(yàn)前應(yīng)檢查工作電源及接地是否可靠。5.4試驗(yàn)方法

5.4.1測量繞組的直流電阻試驗(yàn)周期為定期、大修后、必要

1. 測量繞組直流電阻的三種測試方法：采用感性負(fù)載速測歐姆計(jì)進(jìn)行測量，其接線及測量方法符合儀器測試要求。測試中，儀器先對被試充電，讀取被試品穩(wěn)定后的直流電阻值；用雙臂電橋測量時(shí)，接線圖如下：

c) 若用單臂電橋測量阻值較大的繞組，則注意測量的數(shù)據(jù)應(yīng)減去電橋引線的電阻值。3) 繞組直流電阻測量時(shí)應(yīng)記錄電抗器及消弧線圈本體溫度，不同溫度下的電阻值按下式換算： R₂=R₁(T+t₂)/ (T+t₁)式中R₁、R₂分別為在溫度t₁、t₂下的電阻值T為電阻溫度常數(shù)，銅導(dǎo)線取235、鋁導(dǎo)線取225

4) 測量應(yīng)在常用分接頭的運(yùn)行位置湖州市便攜式絕緣子鹽密度測試儀訂做湖州市便攜式絕緣子鹽密度測試儀訂做上進(jìn)行。) 三相電抗器繞組直流電阻相間差值不應(yīng)大于三相平均值的2%。

6) 直流電阻與相同溫度下的以前相同部位測得值相比較，相應(yīng)變化不應(yīng)大于2%。7) 如直流電阻相間差在出廠時(shí)已超過規(guī)定，制造廠說明了產(chǎn)生這種偏差的原因，可與相同溫度下的產(chǎn)品出廠值比較，相應(yīng)變化不應(yīng)大于2%。5.4.2測量繞組的絕緣電阻、吸收比1) 試驗(yàn)周期為定期、大修后、必要時(shí)。

2) 使用2500V或5000V兆歐表測量絕緣電阻和收比R₆₀/R₁₅， 測量前被試?yán)@組應(yīng)充分放電。3) 絕緣電阻換算至同一溫度下，與前一次測試結(jié)果相比