涂建國(guó)
,產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
WHD-500L全自動(dòng)電容電感測(cè)試儀是武漢華頂電力設(shè)備有限公司針對(duì)變電站現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量并聯(lián)電容器組中的單個(gè)電容器電容值時(shí)存在的問(wèn)題而專門研制的,
1.它著重解決了以下問(wèn)題:
1.現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量單個(gè)電容器需拆除連接線,不僅工作量大而且易損壞電容器。
2.電容表輸出電壓低而導(dǎo)致故障檢出率低。
3.測(cè)量電抗器的電感。
4. WHD-500L全自動(dòng)電容電感測(cè)試儀具有測(cè)量工作量小、快捷簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、故障檢出率高等特點(diǎn)。
2.本型號(hào)測(cè)試儀特點(diǎn)
1.量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換;
2.儲(chǔ)存7168個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù);
3.大屏幕液晶(320×240 LCD)顯示, 漢字菜單操作提示;
4.實(shí)現(xiàn)波形和測(cè)量處理數(shù)據(jù)同屏顯示,使測(cè)試過(guò)程更直觀;
5.具有設(shè)置、校正和調(diào)試功能。
二、技術(shù)參數(shù):
1.電容量量程:0.2μF~2,000μF;
容量范圍:5~20,000 kvar;
測(cè)量精度:0.2μF~2μF ±1%讀數(shù)±0.02μF;
2μF~2,000μF ±1%讀數(shù)±2個(gè)字;
2、電感量程:1mH~9.99H;測(cè)量精度:±1.5%讀數(shù)±2個(gè)字
3、輸出測(cè)量電壓:AC 26V/500VA;50Hz;
4、顯示方式 :大屏幕液晶顯示屏全漢字輸出,面板式熱敏打印機(jī)
5、外形 / 重量 :370×370×220 mm / 16 kg
6、工作條件: a. 環(huán)境溫度:0℃ ~ +40℃,相對(duì)濕度:≤90%
b. 電 源:AC 220V±10%;50Hz;
更多詳情請(qǐng) 武漢華頂電力設(shè)備有限公司
.安裝交接試驗(yàn):確認(rèn)了設(shè)備經(jīng)過(guò)運(yùn)輸和安裝、調(diào)試,已經(jīng)沒有影響安全可靠運(yùn)行的損傷。
4.絕緣電阻:在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對(duì)電極的泄漏電流值之比,用兆歐表直接測(cè)得絕緣電阻值。
特點(diǎn):絕緣電阻可以發(fā)現(xiàn)絕緣的整體性和貫通性受潮、貫通性的集中缺陷。對(duì)局部缺陷反映不靈敏。測(cè)
量值與溫度有關(guān),在同一溫度下進(jìn)行比較(絕緣電阻隨著溫度升高降低)。
5.吸收比:在同一次試驗(yàn)中,1min時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比(R60/R15)。
特點(diǎn):可以比較好地判斷絕緣是否受潮,適用于電容量大的設(shè)備,不用進(jìn)行溫度換算。
6極化指數(shù):在同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。
特點(diǎn):可以很好地判斷絕緣是否受潮,適用于電容量特大的設(shè)備,不用進(jìn)行溫度換算。
7.泄露電流測(cè)試和直流耐壓測(cè)試:銀川市全自動(dòng)電容電感測(cè)試儀報(bào)價(jià)銀川市全自動(dòng)電容電感測(cè)試儀報(bào)價(jià)
測(cè)量絕緣體的直流泄漏電流與測(cè)量絕緣電阻的原理原理基本相同。不同的是直流泄漏試驗(yàn)的電壓一般比兆歐表電壓高,并可以任意調(diào)節(jié),因而比兆歐表發(fā)現(xiàn)缺陷的有效性高,能靈敏反映瓷質(zhì)絕緣的裂紋、夾層絕緣的內(nèi)部受潮及局部松散斷裂、絕緣油劣化、絕緣的沿面炭化等。
特點(diǎn):1)試驗(yàn)設(shè)備輕小。2)能同時(shí)測(cè)量泄漏電流。3)對(duì)絕緣絕緣損傷較小。4)對(duì)絕緣的考驗(yàn)不如交流下接近實(shí)際。
8.介質(zhì)損失角:介質(zhì)損失是絕緣材料的一種特性,介質(zhì)損失很大時(shí),就會(huì)使介質(zhì)的溫度升高而老化,甚至
導(dǎo)致熱擊穿。所以介質(zhì)損失(耗)的大小就反映了介質(zhì)的優(yōu)劣狀況。當(dāng)電氣設(shè)備絕緣受潮、老化時(shí),有
功電流IR增大,tgδ也增大,通過(guò)測(cè)量tgδ可以反映出絕緣的整體性缺陷。