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TSDC/TSC-5000型熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)應用： 廣泛應用于電力、絕緣、生物分子等領域，用于研究材料性能的一些關鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫...

ECM -150型電卡效應測試系統(tǒng)是一款專為測試高壓下鐵電材料表面溫度變化的測量系統(tǒng)。通過添加在材料表面的電場值變化，探測材料的溫度值變化。本系統(tǒng)由真空系統(tǒng)與溫...

ZJ-3型導電凝膠D33系數(shù)儀是一款專用于各種材料壓電系數(shù)測試，包括陶瓷材料，PVDF薄膜材料，導電凝膠，醫(yī)學先進材料等，配置了專用夾具，可以測量動態(tài)條件下的導...

JKZC-HRE01型絕緣材料體電阻和表面電阻超高阻測試儀是一款即可測試絕緣材料超高阻，又可以測試微電流的精密測量裝置，用了大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕...

YDZ-01壓電材料電阻率測試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測量。也可用于微弱電流測量如光電效應和器件暗電流測量。該儀器采用環(huán)形三電...

PZT-JL03型壓電陶瓷居里點溫度測試儀是一款針對壓電陶瓷居里點溫度測試測的設備，該設備可以直接測試出樣品的居里點變化曲線及變化溫度點，對于判斷樣品的居里點溫...

DCD-100型儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)專為研究儲能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設計，適用陶瓷、薄膜材料，可進行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲能材料的...

YDB-03型非接觸式表面電壓測量儀是一款應用于壓電陶瓷，壓電薄膜等極化后，采用非接觸方式測量其表面的電壓，電流等功能的實驗裝置，同時測量絕緣體、半導體或?qū)w表...

JKZC-XJY02梯溫析晶測定儀是一款專門用于測定玻璃析晶儀的專業(yè)儀器,玻璃態(tài)物質(zhì)轉(zhuǎn)為結(jié)晶物質(zhì)的過程稱為析晶,析晶溫度是玻璃的重要性質(zhì)之一。

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復雜繁瑣的操作界面?；?..

YJD-05壓電陶瓷材料介電常數(shù)測定儀是對各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電...

GWJD-600型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù).

PTC/PTRC-500高溫熱敏電阻材料參數(shù)測量分析系統(tǒng)本系統(tǒng)能夠?qū)Σ煌愋偷腜TC樣品進行了測試，在不同的電壓、溫度條件下，得出不同類型樣品的阻溫特性曲線、...

隨著*勢的緊張和環(huán)保要求的日益提高，溫差電材料與器件的研究與開發(fā)引起科學家和眾多有識之士越來越多的關注。其中溫差電性能的測試是研究溫差電材料性能高低的關鍵環(huán)節(jié)。...

BKTEM-B2薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)利用熱電材料制成的制冷和發(fā)電系統(tǒng)，具有體積小、重量輕、無任何機械噪音、不造成任何環(huán)境污染等眾多優(yōu)點。因此對熱電材料的研究非常...

BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準...

BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測試儀為了應對一系列挑戰(zhàn)性的應用，系數(shù)/電阻率測試系統(tǒng)用于分析材料和器件的特性。

JKZC-YDZK03M型壓電阻抗分析儀具有 20 Hz 至 120 MHz 的頻率范圍，可在寬阻抗范圍內(nèi)提供 0 045%（典型值）基本精度，并且內(nèi)置 40 ...

GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀（溫度：1000℃，頻率：10HZ-20MHZ）提供頻率（10 Hz 至20MHz），可在不同測量條件下進行高速連續(xù)測量。其...

JKZC-ZKE4000型壓電阻抗分析儀具有20Hz至120MHz的頻率范圍，可在寬阻抗范圍內(nèi)提供出色的0 045%（典型值）基本精度，并且內(nèi)置40V直流偏置源...