CHY-115 紅外線膜厚計CHY115

CHY -115 紅外線膜厚計CHY115
產(chǎn)品特色：
■CE認(rèn)證合格
■可偵測導(dǎo)磁，非導(dǎo)磁材料
■資料儲存支援255筆
■可設(shè)定高/低警報蜂鳴的讀值范圍
■選擇平均值，zui大值，zui小值及zui大值 - zui小值
■常用厚度量測點可使用快速一點校正
■兩點校正正常操作
■背光顯示
■使用者可選擇微米/密爾
■自動關(guān)機功能
 
CHY -115紅外線膜厚計CHY115
一般規(guī)格：
顯示：31 / 2位數(shù)字液晶顯示，zui大1999讀值。
電池電壓不足顯示：當(dāng)鏁電池電壓差低于操作電壓差時，
“"顯示。
操作環(huán)境：0° C至40° C，相對濕度<90％RH。
避免有強度磁場的環(huán)境。
儲存環(huán)境：-20° C至60° C，0至80％R.H. （電池移除后）。
精確度測試環(huán)境：23° C±5° C，相對濕度<75％RH。
自動關(guān)機：15秒。
尺寸：148毫米（高）x105mm（寬）x42mm（厚）。
 
 
CHY -115紅外線膜厚計CHY115
技術(shù)資料：
范圍：0至40.0mils（0至1000μm）
解析度：0.1mils/1μm
回應(yīng)時間：1秒
精確度：
±（4位）在0至7.8mils
±（10位）在0至199μm
±（3％4位）在7.9mils至40mils
±（3％+10位）在200微米至1000μm