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廣東艾思荔檢測儀器有限公司
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當前位置:廣東艾思荔檢測儀器有限公司>>高低溫交變濕熱試驗>>高低溫濕熱交變測試箱>> HLP-408哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀

哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號HLP-408

品       牌艾思荔/Asli

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地重慶市

聯(lián)系方式:婁經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時間:2021-03-26 16:37:53瀏覽次數(shù):2600次

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哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀的用途
  低溫穩(wěn)定性測試儀又稱電路板高低溫老化箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。

  艾思荔低溫穩(wěn)定性測試儀主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用采用SUS304不銹鋼油發(fā)紋板或?qū)氫摾滠堜摪屐o電噴塑,箱門中間設大面積觀察窗,并配有觀察燈,使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細玻璃棉,具有強度高,保溫性有好等特點。

  哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀的主要技術指標

  溫度范圍:0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃~+100℃(+150℃)

  濕度范圍:30%~98%R·H(可按客戶要求定做)

  溫度均勻度:≤±2℃

  溫度波動度:≤±0.5℃

  濕度偏差:+2/-3% R·H

  升溫速率:≥2-3℃/min(可按客戶要求定做)

  降溫速率:≤1℃/min(可按客戶要求定做)

  標準配置:觀察窗、測試引線孔、防潮照明燈、不銹鋼樣品架

  保溫體:超細玻璃纖維

  循環(huán)系統(tǒng):不銹鋼風葉,單循環(huán),低噪音離心風機

  安全配置:漏電斷電保護,壓縮機超壓,過熱過流保護,過載熔斷保護,風機過熱保護,聲訊報警等。

  哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀的結構特征

  采用標準化多功能設計、有程序運行和恒定運行功能。主控制儀采用韓國進口觸摸屏溫濕度控制儀,液晶LCD顯示,具有通訊接口,大容量程序,操作簡單,用戶可自定義溫、濕度控制曲線進行溫濕度試驗。升溫、降溫、加濕、去濕獨立,*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進口壓縮機組,機械式單級制冷或復迭低溫回路系統(tǒng),全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。不銹鋼鎳鉻板形電加熱器(過沖小),加濕采用不銹鋼加濕管,加濕方式為蒸汽加濕,水位自動控制。

  哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀的安全保護裝置:

  1.電源超載、短路保護

  2.接地保護

  3.超溫保護

  4.缺水保護

  5.壓縮過壓、過載保護

  6.為保護設備,所有報警均會自動切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。

  哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀的使用現(xiàn)場的條件:

  1.溫度:15℃~35℃

  2.相對濕度:不大于85%RH

  3.周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響

  4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

  5.無陽光直接照射或其它熱源直接輻射

  6.周圍無強烈氣流,當周圍空氣需要強制流時,氣流不應直接吹到箱體上。

  7.試驗箱應放置平穩(wěn),保持水平。

  8.試驗箱的四周應留有一定的距離,方便維修操作。

  9.安裝場地通風良好

  10.良好接地

  低溫穩(wěn)定性測試儀服務承諾:

  1.免費上門安裝調(diào)試、培訓操作人員。

  2.產(chǎn)品自交付用戶使用之日起包修壹年。

  低溫穩(wěn)定性測試儀是標準:

  GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件

  GB 10592-89 低溫穩(wěn)定性測試儀技術條件

  GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件

  GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件

  GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備

  GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設備

  GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

  GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

  GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

  GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

  GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

  GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

  哈爾濱低溫穩(wěn)定性測試儀的用途

  低溫穩(wěn)定性測試儀又稱電路板高低溫老化箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。電路板高低溫老化試驗箱主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預定要求,以便供產(chǎn)品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

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