艾思荔低溫高濕度解凍機箱體為整體結構形式，制冷系統(tǒng)位于箱體后下部，控制系統(tǒng)位于試驗箱的上部，工作室一端的風道夾層內，分布加熱器、制冷蒸發(fā)器、風葉等裝置;試驗箱左側設有Ф50電纜孔，試驗箱為單開門，箱門上設有觀察窗、防霜裝置及可開關控制的照明燈。觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內側膠合片式導電膜加熱除霜。照明燈采用進口飛利浦燈管，可有效的*觀察工作室內的試驗變化。采用雙層耐高溫抗老化硅橡膠密封，可有效保證試驗箱溫度的流失

　　低溫高濕度解凍機溫度范圍

　　A型: 0℃～+100℃(+150℃)

　　B型: -20℃～+100℃(+150℃)

　　C型: -40℃～+100℃(+150℃)

　　D型: -70℃～+100℃(+150℃)

　　低溫高濕度解凍機技術參數(shù)：

　　波動度：±0.5℃

　　均勻度：±2℃

　　升溫速率：3.0℃/min ( 可按客戶要求定做)

　　降溫速率：0.7～1℃/min (可按客戶要求定做)

　　外箱材料：冷軋板靜電噴塑/SUS304不銹鋼(任選一種)

　　內箱材料：SUS304不銹鋼板

　　保溫材料：超細玻璃纖維保溫棉/硬質聚胺脂發(fā)泡

　　箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條

　　低溫高濕度解凍機設備符合標準：

　　GB 10589 低溫試驗箱技術條件

　　GB 10592 高低溫試驗箱技術條件

　　GB 11158 高溫試驗箱技術條件

　　GB/T5170.2 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備

　　GB2423.1 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

　　GB2423.2 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

　　GB2424.1 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

　　設備用途：

　　低溫高濕度解凍機又稱電路板高低溫老化箱主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。電路板高低溫老化箱主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便于產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。