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粟顯全
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目錄:東莞市正臺測試儀器有限公司>>冷熱沖擊試驗箱>>液槽式冷熱沖擊試驗箱>> ZT-CTH-56C液槽式冷熱沖擊試驗箱
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 額定電壓 | 380V |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 | 適用領域 | 科研 |
| 外形尺寸 | W1150XH2000XD1450mm | 溫度波動度 | ±0.5℃ |
| 溫度范圍 | -65～+150℃ | 溫度均勻度 | ≤±1.0% |
| 重量 | 580kg |
液槽式冷熱沖擊試驗箱用途：
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質,從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
液槽式冷熱沖擊試驗箱滿足標準：
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法
GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法
IEC68-2-14 試驗N：溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
MIL-STD-202F美軍標準,電子及電氣試驗方法
MIL-STD-883E美軍標準,集成電路失效分析方法
型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質浴中，通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內 | |
試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 |
預冷溫度范圍 | -70℃～0℃ | |
預熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ | |
溫度沖擊范圍 | -40℃～+150℃/-65℃～+150℃ | |
測試時間 | ≥10 mins | ≥10 mins |
轉換移動時間 | ≤30s | |
溫度偏差 | ±1.0℃ | |
溫度波動度 | ±0.5℃ | |
溫度波動度 | ±1.0℃ | |
使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz | |
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