備　　注： 尖點(diǎn)測(cè)試方法
1.目的:制定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)以評(píng)定產(chǎn)品是否符合尖點(diǎn)要求。
2.范圍:所有測(cè)試前或測(cè)試后可以接觸的點(diǎn)（美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)及歐洲標(biāo)準(zhǔn)免除外以及功能性尖點(diǎn)除外）。
3.設(shè)備:尖點(diǎn)測(cè)試器
4.程序
4.1尖點(diǎn)測(cè)試器調(diào)校程序
4.1.1順時(shí)針旋轉(zhuǎn)松環(huán)。
4.1.2順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)尾蓋，直到紅色指示燈亮。
4.1.3逆時(shí)針慢慢轉(zhuǎn)動(dòng)尾蓋，直到指示燈剛好熄滅。
4.1.4向前/后轉(zhuǎn)動(dòng)尾蓋，確定指示燈剛好亮?xí)r確切位置。
4.1.5參考尾蓋上的微米刻度標(biāo)注校正的位置。
4.1.6逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)尾蓋5格刻度（帽上兩線(xiàn)之間的距離為一格）。
4.1.7扭緊環(huán)，直至緊靠尾蓋。
4.2尖點(diǎn)測(cè)試程序
4.2.1樣辦在進(jìn)行尖點(diǎn)測(cè)試前必須在室溫為23±2度、濕度為20%～70%的環(huán)境內(nèi)放置4小時(shí)。
4.2.2將*放入尖點(diǎn)測(cè)試器測(cè)量槽內(nèi)/握住測(cè)試物/垂直自由的施加共重1LBS（4.5N）的力，通過(guò)測(cè)試量槽位至測(cè)試*。
5.判定:要求:測(cè)試燈亮則為不合格（測(cè)試物為尖點(diǎn)）