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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
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低溫黑體和大面源黑體美國(guó)SBIR紅外公司成立于1986年，經(jīng)過(guò)逾20年的發(fā)展，已經(jīng)成為國(guó)際上電光測(cè)試裝備的*，所研發(fā)產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國(guó)紅外系統(tǒng)測(cè)試及焦平面探測(cè)器測(cè)試等領(lǐng)域。其產(chǎn)品性能主要如下：
腔式黑體
低溫黑體
大面源黑體
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