工業(yè)在線粒度監(jiān)測系統(tǒng)

1. 為什么使用在線粒度儀？

粒度分析對于很多工業(yè)企業(yè)具有重要意義，尤其是在中國工業(yè)已由粗放型轉(zhuǎn)為精細化生產(chǎn)的狀況下，最終產(chǎn)品或中間產(chǎn)品的粒度大小決定了產(chǎn)品售價、利用率，能效、環(huán)保等各方面的水平高低，直接影響企業(yè)的效益。

2. 常用的測試原理

測試原理1：顆粒圖像技術(shù)

由于本世紀初數(shù)字圖像硬件（CCD和CMOS）取得突破性進步，使得近年來圖像顆粒測試法成為相對先進測試方法，是一種直接測試法，可以直接獲得顆粒的照片，從而獲得顆粒的粒度分布以及其形貌參數(shù)，這是其他任何測試方法所不具備的。圖像法*為未來的顆粒測試趨勢。一般原理圖如下：

專門設(shè)計的遠心（或雙遠心）光學鏡頭組，配合平行光源將測試區(qū)域顆粒的形貌直接投射到高速相機的成像靶面上。

可采集到獲得大量如下圖所示的顆粒照片，通過我們的軟件系統(tǒng)，將圖片上顆粒的信息讀取出來即可獲得參與測試的數(shù)萬甚至數(shù)十萬的顆粒數(shù)據(jù)，具有足夠的代表性。

特點

• 優(yōu)勢范圍：20微米以上均可，理論上沒有測試上限

• 直接測試法，不需要經(jīng)過數(shù)學模型即可得到顆粒真實數(shù)據(jù)，結(jié)果可靠

• 可獲得球形度、圓形度、長徑比等形狀參數(shù)，在一些行業(yè)具有重要價值

測試原理2：激光散射技術(shù)

現(xiàn)階段應用較廣泛的粒度測試方法，以夫瑯禾費和MIE理論為基礎(chǔ)的激光衍射法，仍然是一種間接測試法，通過獲得顆粒的衍射散射能譜來推導出顆粒的分布數(shù)據(jù)，此方法在上世紀90年代開始在中國顆粒測試領(lǐng)域廣泛普及，發(fā)展到今天已成為各行業(yè)國標中常采用的分析方法。原理圖如下

激光照射到測試區(qū)顆粒時產(chǎn)生的散射和衍射光線經(jīng)過傅里葉透鏡組的處理，被光電探測器感知，根據(jù)其能譜的范圍使用MIE理論和夫瑯禾費理論公式，可推導出其粒度分布情況。如下圖

特點

• 優(yōu)勢測試范圍：0.1微米——500微米

• 現(xiàn)階段普及度較廣的測試方法，數(shù)據(jù)對比性強

• 測試時間短，較適用于要求測試周期短的用戶

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