UVISEL自動超薄膜檢測

UVISEL自動超薄膜檢測光譜型相調(diào)制橢圓偏振儀(SPME)是一款*的儀器，它采用光彈性晶體來調(diào)制偏振光，而不是傳統(tǒng)橢偏技術(shù)中的機械偏光裝置。

相調(diào)制技術(shù)在性能上和多種實驗功能方面有著顯著的優(yōu)勢。

與傳統(tǒng)橢偏儀相比，UVISEL光譜型橢偏儀能夠在全譜范圍內(nèi)測得非常準確的橢偏角(Y, D)，從而可以對透明襯底、超薄薄膜和折射率接近的樣品進行高精度和高靈敏度的特性分析。

相調(diào)制技術(shù)的原理，使得UVISEL光譜型橢偏儀能夠進行*的參數(shù)測量，包括極化度、各向異性以及Mueller矩陣元素的確定。高達1毫秒/每數(shù)據(jù)點的快速數(shù)據(jù)采集速率，使得UVISEL成為動態(tài)研究和液態(tài)表面測量的理想解決方案。

UVISEL是一臺多功能的光譜型橢偏儀。它覆蓋了190nm到2100nm的寬光譜范圍，而且提供了一系列的自動選件和附件來增強系統(tǒng)的功能、滿足您的實驗需求。模塊化的設(shè)計使得UVISEL配置靈活，可以離線、在線甚至為減小占地面積和滿足超凈間要求而集成到一個機柜中。

特征：

• 光譜型相調(diào)制橢圓偏振儀
• 同類產(chǎn)品中的zui高精度和zui高靈敏度
• 寬光譜范圍：142到2100納米
• 模塊化設(shè)計
• 包含成熟的光譜型橢圓偏振儀軟件包