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上海雙旭電子有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第17年

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當(dāng)前位置:上海雙旭電子有限公司>>材料性能檢測(cè)儀>>超聲波探傷儀>> CTS-3000TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀

TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀

參   考   價(jià): 9800

訂  貨  量: ≥1  件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)CTS-3000

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地廣安市

更新時(shí)間:2024-12-10 21:53:14瀏覽次數(shù):3375次

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TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀● 開(kāi)發(fā)的、采用可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù),內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/ 脈沖發(fā)生器",實(shí)現(xiàn)與探頭的匹配,對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有的穿透力和信噪比;而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率

TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀

功能特點(diǎn)

● TIME®1130 數(shù)字超聲波探傷儀匯集時(shí)代公司26 年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,能夠快速、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位及對(duì)缺陷的定量和定性,廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、 、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。

● 開(kāi)發(fā)的、采用可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù),內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/ 脈沖發(fā)生器",實(shí)現(xiàn)與探頭的匹配,對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有的穿透力和信噪比;而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。

● 先進(jìn)的電路設(shè)計(jì),采用12bits 80MHz 采樣片,配合5.7"TFT(640x480)高分辨率彩色液晶顯示屏,確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析,對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng),回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證,對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。

支持動(dòng)態(tài)錄像功能,可記錄4 個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件,每個(gè)文件可以以16 幀/ 秒的速度記錄2 分鐘實(shí)時(shí)波形。(可外接U 盤存貯到4 個(gè)文件,每個(gè)文件半個(gè)小時(shí))通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作,大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)。

支持灰度B 掃功能,可顯示截面灰度B 掃描,一個(gè)屏幕顯示豐富信息量,可用于簡(jiǎn)單TOFD 應(yīng)用。

豐富的波形凍結(jié)功能,波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能,還具有定時(shí)釋放能力,大大方便用戶操作。

機(jī)器嚴(yán)格符合歐標(biāo)EN12668-1 的標(biāo)準(zhǔn)要求。

DAC、DGS 曲線評(píng)定,取點(diǎn)不受限制,并內(nèi)置國(guó)內(nèi)主要4 個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn),可直接通過(guò)選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置

DAC 曲線的三線偏移量,內(nèi)帶“美國(guó)鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1"評(píng)定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更加得心應(yīng)手。方便現(xiàn)場(chǎng)使用。

TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀

技術(shù)參數(shù)

探傷功能

波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷zui高波,標(biāo)定缺陷zui大值

實(shí)用AVG:實(shí)用AVG 曲線、自動(dòng)換算缺陷φ 值(X>3N,N 為近場(chǎng)距離)

動(dòng)態(tài)記錄:檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形,存儲(chǔ)、回放

缺陷定位:實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S

缺陷定量:實(shí)顯SL 定量值(DAC 曲線實(shí)時(shí)定量)

缺陷定性:通過(guò)包絡(luò)波形,人工經(jīng)驗(yàn)判斷

曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算

灰度B 掃描:實(shí)時(shí)掃查,描述缺陷橫切面


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