目錄:中山市鑫天溯技術(shù)有限公司>>膜厚儀>> Thick 800A 智能型X-Ray膜厚測(cè)試儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2022-12-23 16:49:40瀏覽次數(shù)：474評(píng)價(jià)
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| 測(cè)量范圍 | 硫(S)到鈾（U）。 | 測(cè)量精度 | 1 ppm—99.99%（不同元素,分析范圍不同） |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
| 外形尺寸 | 500(W)×350(D)×140(H) mmmm | 重量 | 90kg |
| 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn) | 重復(fù)定位精度小于0.005mm | 同時(shí)可以分析 | 30種以上元素，五層鍍層 |
| 鍍層厚度一般在 | 50μm以內(nèi)（每種材料有所不同） | 度適應(yīng)范圍為 | 15℃至30℃。 |
| 電源:? | 交流220V±5V,?建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 |
X-Ray膜厚測(cè)試儀
性能優(yōu)勢(shì)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
最小φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
X-Ray膜厚測(cè)試儀
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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