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電容器薄膜電弱點(diǎn)測(cè)定儀-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

電氣絕緣用薄膜電弱點(diǎn)測(cè)定儀-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

PE/涂覆PE隔離膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測(cè)定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

高溫棒材絕緣電阻率測(cè)試儀-可以適用于不同試樣類(lèi)型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測(cè)試。

高溫片材絕緣電阻率測(cè)試儀-可以適用于不同試樣類(lèi)型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測(cè)試。

高溫氣氛絕緣電阻率測(cè)試儀-可以適用于不同試樣類(lèi)型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測(cè)試。

高溫真空絕緣電阻率測(cè)試儀-可以適用于不同試樣類(lèi)型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測(cè)試。

高溫絕緣電阻率測(cè)試儀-可以適用于不同試樣類(lèi)型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測(cè)試。

高溫金屬氧化物介電溫譜測(cè)試儀-適用于各種液體、金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)

高溫液體介電溫譜測(cè)試儀-適用于各種液體、金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)

高溫介電溫譜測(cè)試儀-適用于各種液體、金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)

高溫介電頻譜測(cè)量系統(tǒng)-適用于各種液體、金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)

高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)-適用于各種液體、金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)

膨潤(rùn)土土壤振實(shí)拍擊密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。...

鐵粉粉體粉末振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振...

全自動(dòng)蓋德振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)...

混合料振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度...

全自動(dòng)鋼研振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)...