電源測(cè)試系統(tǒng)-德國(guó)EA電源產(chǎn)品中心|產(chǎn)品展示-深圳市世紀(jì)天源儀器有限公司

日本HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
日本HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)為進(jìn)口的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，可根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造，適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫...

型號(hào)： ES-107L 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:20:41 對(duì)比

HITACHI代理渦旋式壓縮機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試ES-107L
高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備非飽和/飽和控制兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器，操作簡(jiǎn)單方便。箱門采用按鈕式，試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊，安全可靠。通過(guò)緩...

型號(hào)： PC-422R9D 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:17:09 對(duì)比

雙腔體設(shè)計(jì)防止結(jié)露老化試驗(yàn)HAST試驗(yàn)HIRAYAMA代理
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

型號(hào)： RTm-30DC 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:13:54 對(duì)比

低阻測(cè)試儀CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)導(dǎo)通電阻測(cè)試
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣...

型號(hào)： ECMr-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:10:30 對(duì)比

離子遷移測(cè)試系統(tǒng)CAF測(cè)試高壓絕緣測(cè)試儀可靠性測(cè)試大電壓測(cè)試
HITACHI 120L恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI 120L恒溫恒濕試驗(yàn)箱，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠...

型號(hào)： EC-16MHHP 所在地：深圳市參考價(jià)：￥1更新時(shí)間：2025/2/24 9:06:32 對(duì)比

EC-恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱日立恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境箱HITACHI
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱（恒溫恒濕高低溫試驗(yàn)箱），恒濕恒溫箱是指能同時(shí)施加溫度、濕度應(yīng)力的試驗(yàn)箱，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒...

型號(hào)： EC-46MHHP 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:05:00 對(duì)比

恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備恒溫箱試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕機(jī)
HITACHI恒溫恒濕機(jī)廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個(gè)領(lǐng)域。這些領(lǐng)域不斷深化的研究和產(chǎn)品開發(fā)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的性能要不越來(lái)越高。

型號(hào)： EC-86MHHP 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:03:14 對(duì)比

恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備試驗(yàn)箱半導(dǎo)體環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境箱HITACHI
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

型號(hào)： EC-106MHH... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 9:01:04 對(duì)比

試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備穩(wěn)定恒溫恒濕試驗(yàn)箱高效恒溫恒濕試驗(yàn)箱老化箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬...

型號(hào)： EC-36LHP 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:58:42 對(duì)比

恒溫恒濕試驗(yàn)箱生物技術(shù)工程試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備HITACHI環(huán)境箱老化箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱也稱恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)，用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

型號(hào)： EC-86LHHP 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:56:19 對(duì)比

恒溫恒濕試驗(yàn)箱電子元件試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備HITACHI環(huán)境箱老化箱
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱（大型）
HITACHI恒溫恒濕試驗(yàn)箱（大型）是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備被廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個(gè)領(lǐng)域。

型號(hào)： EC-1506L 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:53:54 對(duì)比

恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境箱老化箱恒溫箱大型環(huán)境箱
Analysis熱阻測(cè)試儀
Analysis熱阻測(cè)試儀Phascl2主要用于測(cè)試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱...

型號(hào)： Phascl2 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:51:29 對(duì)比

氧殺菌除臭裝置除臭裝置熱阻測(cè)試裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF），在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

型號(hào)： HVUα-3000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:49:50 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測(cè)試裝置
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置（CAF）
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置（CAF）原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...

型號(hào)： HVUα-2000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:47:23 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測(cè)試裝置
HITACHI液槽沖擊試驗(yàn)箱
HITACHI液槽沖擊試驗(yàn)箱采用渦旋式壓縮機(jī)，使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學(xué)、醫(yī)藥領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)研究方面，...

型號(hào)： ES-66EX-L 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:45:36 對(duì)比

液槽沖擊試驗(yàn)箱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱HITACHI環(huán)境箱TACHI液槽試驗(yàn)箱
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置絕緣可靠性評(píng)估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

型號(hào)： HVUα-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:43:55 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)絕緣可靠性評(píng)估
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測(cè)試，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

型號(hào)： ECM-500 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:42:16 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測(cè)試CAF測(cè)試信賴性測(cè)試失效分析
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:40:34 對(duì)比

絕緣電阻值檢測(cè)CAF測(cè)試方法CAF設(shè)備離子遷移測(cè)試離子遷移檢測(cè)設(shè)備
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器，醫(yī)療設(shè)備，HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱

型號(hào)： PC-702R8 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:34:23 對(duì)比

HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱PC-702R8老化箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備非飽和/飽和控制兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器，操作簡(jiǎn)單方便。箱門采用按鈕式，試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊，安全可靠。通過(guò)緩...

型號(hào)： PC-422R9 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/2/24 8:32:18 對(duì)比

HIRAYAMA試驗(yàn)箱飽和非飽和高加速壽命試驗(yàn)箱PC-422R9老化箱

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