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ANATECH熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻...

J-RAS代理離子遷移試驗裝置 CAF測試，J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng)，并且重要的試驗數(shù)據(jù)被...

深圳市世紀天源儀器有限公司是HIRAYAMA代理，供應(yīng)的HIRAYAMA高加速壽命試驗箱性能穩(wěn)定，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等相關(guān)的使用...

Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測試儀是一套自動測量系統(tǒng)，用來測量那些電子封裝材料和多種柔性的，堅硬的，半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導(dǎo)率需要測量的樣品被夾在兩個平行...

HITACHI冷熱沖擊試驗箱（大型）：冷熱沖擊試驗箱被廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個領(lǐng)域。這些領(lǐng)域不斷深化的研究和產(chǎn)品開發(fā)對試驗設(shè)備的性能要求越來...

HIRAYAMA產(chǎn)品具有中華人民共和國特種設(shè)備制造許可證、ISO9001質(zhì)量認證ISO14001環(huán)境質(zhì)量認證、TUV質(zhì)量認證、CE認證等相關(guān)認證。 HIRAYA...

HIRAYAMA高加速壽命試驗箱（Hast）PC-422R8D高加速壽命試驗箱（Hast），HIRAYAMA的雙箱體系統(tǒng)精度高，測試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作，獨...

HIRAYAMA高加速壽命試驗箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗中自動鎖緊，安全可靠。通過緩...

HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器，醫(yī)療設(shè)備，HIRAYAMA高加速壽命試驗箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗箱

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短...

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

J-RAS離子遷移試驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

HITACHI液槽沖擊試驗箱采用渦旋式壓縮機，使其在低溫領(lǐng)域也能實現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學(xué)、醫(yī)藥領(lǐng)域的實驗研究方面，...

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF），在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

Analysis熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱...

離子遷移實驗裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...

HITACHI恒溫恒濕試驗箱也稱恒溫恒濕試驗機，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

HITACHI恒溫恒濕試驗箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬...

HITACHI恒溫恒濕試驗箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。

HITACHI恒溫恒濕試驗箱廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個領(lǐng)域。這些領(lǐng)域不斷深化的研究和產(chǎn)品開發(fā)對試驗設(shè)備的性能要不越來越高。