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日本HITACHI快速溫變?cè)囼?yàn)箱
日本HITACHI快速溫變?cè)囼?yàn)箱日立環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的核心部分，采用渦旋式壓縮機(jī)，使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食...

型號(hào)： EC-85EXHH... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:31:15 對(duì)比

快速溫變?cè)囼?yàn)箱溫變?cè)囼?yàn)箱試驗(yàn)箱日本HITACHI代理快變箱
日本HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)箱
日本HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)箱為進(jìn)口的冷熱沖擊試驗(yàn)箱，可根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造，適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫...

型號(hào)： ES-57L 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:25:52 對(duì)比

冷熱沖擊試驗(yàn)箱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱HITACHI代理57L沖擊箱
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時(shí)間的測(cè)試（1 ～...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:23:16 對(duì)比

離子遷移測(cè)試裝置日本J-RAS絕緣電阻值檢測(cè)CAF測(cè)試方法日本J-RAS絕緣劣化試驗(yàn)
HAMRON氣壓防水測(cè)試器
HAMRON氣壓防水測(cè)試器WPC6100P02/M/WO電子類產(chǎn)品氣壓防水測(cè)試器公司每年舉辦多次的行業(yè)技術(shù)研討會(huì)，邀請(qǐng)多家企事業(yè)單位（如：中科院、HUAWEI...

型號(hào)：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 16:32:12 對(duì)比

氣壓防水測(cè)試器防水測(cè)試器HAMRON代理防水設(shè)備防水檢測(cè)
ANATECH熱阻測(cè)試儀
ANATECH熱阻測(cè)試儀Phascl2主要用于測(cè)試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻...

型號(hào)： Phasc12 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 16:29:35 對(duì)比

ANATECH代理熱阻測(cè)試儀焊點(diǎn)可靠性專業(yè)材料分析熱導(dǎo)率
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測(cè)試，J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測(cè)系統(tǒng)，并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被...

型號(hào)： ECM-100/1... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:56:23 對(duì)比

遷移測(cè)試裝置CAF試驗(yàn)電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)J-RAS代理
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
深圳市世紀(jì)天源儀器有限公司是HIRAYAMA代理，供應(yīng)的HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱性能穩(wěn)定，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等相關(guān)的使用...

型號(hào)： PC-304R8D 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:53:55 對(duì)比

遷移測(cè)試裝置CAF試驗(yàn)電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)HIRAYAMA代理
Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測(cè)試儀
Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測(cè)試儀是一套自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)，用來測(cè)量那些電子封裝材料和多種柔性的，堅(jiān)硬的，半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導(dǎo)率需要測(cè)量的樣品被夾在兩個(gè)平行...

型號(hào)：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:47:59 對(duì)比

熱導(dǎo)系統(tǒng)測(cè)試儀系統(tǒng)測(cè)試儀測(cè)試儀
德國EA電源
德國EA電源新系列直流電子負(fù)載具有將能量返回市電的功能，稱為EA-ELR9000，為不同的用途，輸出新的額定電壓、電流與功率。這些產(chǎn)品具有四個(gè)常用調(diào)節(jié)模式:恒壓...

型號(hào)：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:13:10 對(duì)比

德國EA電源EA電源直流高壓光伏模擬電源模擬電源寬范圍電源
HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)箱（大型）
HITACHI冷熱沖擊試驗(yàn)箱（大型）：冷熱沖擊試驗(yàn)箱被廣泛用于半導(dǎo)體、電子元件、生物技術(shù)工程等多個(gè)領(lǐng)域。這些領(lǐng)域不斷深化的研究和產(chǎn)品開發(fā)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的性能要求越來...

型號(hào)： ES-1506L 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:11:00 對(duì)比

冷熱沖擊試驗(yàn)箱沖擊箱環(huán)境試驗(yàn)箱大型沖擊箱老化箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA產(chǎn)品具有中華人民共和國特種設(shè)備制造許可證、ISO9001質(zhì)量認(rèn)證ISO14001環(huán)境質(zhì)量認(rèn)證、TUV質(zhì)量認(rèn)證、CE認(rèn)證等相關(guān)認(rèn)證。 HIRAYA...

型號(hào)： PC-304R8 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:03:59 對(duì)比

HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱HAST箱HAST測(cè)試
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱（Hast）
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱（Hast）PC-422R8D高加速壽命試驗(yàn)箱（Hast），HIRAYAMA的雙箱體系統(tǒng)精度高，測(cè)試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作，獨(dú)...

型號(hào)： PC-422R8D 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:02:11 對(duì)比

HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱壽命測(cè)試HAST箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備非飽和/飽和控制兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊，安全可靠。通過緩...

型號(hào)： PC-422R9 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:00:11 對(duì)比

HIRAYAMA試驗(yàn)箱飽和非飽和高加速壽命試驗(yàn)箱PC-422R9老化箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器，醫(yī)療設(shè)備，HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱

型號(hào)： PC-702R8 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:58:05 對(duì)比

HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱PC-702R8老化箱
INTEPRO電源測(cè)試系統(tǒng)
INTEPRO電源測(cè)試系統(tǒng) 專著于設(shè)計(jì)和生產(chǎn)如下產(chǎn)品:功能測(cè)試電力電子ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）、壽命循環(huán)和設(shè)計(jì)測(cè)試ATE、ATE控制和測(cè)試開發(fā)軟件、功率半導(dǎo)體壽命...

型號(hào)：美國INTEPRO 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:56:48 對(duì)比

美國INTEPRO電源測(cè)試系統(tǒng)電源測(cè)試設(shè)備INTEPRO電源電源
DC/DC老化測(cè)試系統(tǒng)（實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)）
DC/DC老化測(cè)試系統(tǒng)（實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)）為測(cè)試和DC/DC電源的老化測(cè)試提供了經(jīng)濟(jì)靈活的方法。系統(tǒng)能測(cè)試各種范圍的轉(zhuǎn)換器類型，客戶可選擇以下負(fù)載類型:? 能量回收利...

型號(hào)：所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:55:00 對(duì)比

DC/DC老化測(cè)試系統(tǒng)Intepro老化測(cè)試實(shí)時(shí)老化測(cè)試系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)Intepro
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短...

型號(hào)： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:53:08 對(duì)比

絕緣電阻值檢測(cè)CAF測(cè)試方法CAF設(shè)備離子遷移測(cè)試離子遷移檢測(cè)設(shè)備
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測(cè)試，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

型號(hào)： ECM-500 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:51:28 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測(cè)試CAF測(cè)試信賴性測(cè)試失效分析
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置絕緣可靠性評(píng)估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

型號(hào)： HVUα-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:43:47 對(duì)比

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)絕緣可靠性評(píng)估
HITACHI液槽沖擊試驗(yàn)箱
HITACHI液槽沖擊試驗(yàn)箱采用渦旋式壓縮機(jī)，使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學(xué)、醫(yī)藥領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)研究方面，...

型號(hào)： ES-66EX-L 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:39:57 對(duì)比

液槽沖擊試驗(yàn)箱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱HITACHI環(huán)境箱TACHI液槽試驗(yàn)箱

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