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當前位置：北京西潤斯儀器儀表有限公司>> TP-TPY-1橢圓偏振測厚儀
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業(yè) | 其他 | 測量最小示值： | ≤1nm |
橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀 型號：TP-TPY-1
在近代科學技術的許多領域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此，更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測定光學參數(shù)，如：布儒斯特角法測介質膜的折射率，干涉法測膜厚，其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度高、精度高、非破壞性測量等優(yōu)點，因而，橢圓偏振法測量已在光學、半導體、生物、醫(yī)學等諸多領域得到廣泛應用。
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