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變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理 參考價(jià)：1880
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理，測(cè)量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成； 一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源，便...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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