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產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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光度計規(guī)格
適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量。基于我們已有的成熟平臺,Asteria是專門為需要內(nèi)置強大計算能力、易于產(chǎn)線集成和快速得到測試結(jié)果的產(chǎn)線應(yīng)用開發(fā)的。
Asteria可以提供兩種配置:鏡頭配置可以用于測量亮度(cd/m²)和flicker。余弦校正探頭配置可以用于測量照度(lux)和flicker。
Asteria系列特點:
亮度或者照度測量,探測器響應(yīng)匹配人眼響應(yīng)曲線(CIE1931)
支持液晶行業(yè)(Contrast,JEITA,VESA)和燈具行業(yè)(percentage, Index)所有6種flicker計算方法.
所有計算儀器內(nèi)部完成,包括JEITA,便于系統(tǒng)集成
得益于高速的采樣頻率和大的內(nèi)存,可以同時測量高頻信號和低頻信號(比如1Hz)
支持外部觸發(fā)功能,適合產(chǎn)線應(yīng)用
支持大部分的編程語言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等
USB和RS232通訊接口
光度計規(guī)格
測量參數(shù)
參數(shù) | 范圍 | 準(zhǔn)確性 | 重復(fù)性 |
分辨率 | 15bit for X,Y and Z | >78dB | |
亮度(Y) | 0.002cd/m2-15000cd/m2 積分時間1ms-5s之間 | ±4%測量值 | Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2 |
Y:±0.1% for Y at 1cd/m2 | |||
Y:±0.05% for Y at 5cd/m2 | |||
Y:±0.03% for Y at 150cd/m2 | |||
測量速度 | 4-10次/秒(0.1cd/m2); 10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2); | ||
Flicker (contrast method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1%
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Flicker (Jeita method) | 1cd/m2或更高亮度
| ±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1dB
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工作溫度 | 10-35℃ |
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