從1974年引入薄膜技術(shù)研發(fā)薄膜鉑熱電阻元件，成功解決鉑熱電阻元件的成本及應(yīng)用問題起，至今已有30多年的歷史，隨著照相平板印刷技術(shù)的日益發(fā)展，薄膜鉑熱電阻元件近幾年的發(fā)展突飛猛進。

熱效應(yīng)進行溫度測量的，即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此，只要測量出感溫?zé)犭娮璧淖柚底兓?，就可以測量出溫度。

隔爆型熱電阻通過特殊結(jié)構(gòu)的接線盒，裝配式熱電偶把其外殼內(nèi)部爆炸性混合氣體因受到火花或電弧等影響而發(fā)生的爆炸局限在接線盒內(nèi)，生產(chǎn)現(xiàn)場不會引超爆炸。隔爆型熱電阻可用于具有爆炸危險場所的溫度測量。熱電阻的測溫原理與熱電偶的測溫原理不同的是，熱電阻是基于電阻。

的發(fā)展，在很大程度上取決于其核心部件，鉑熱電阻元件的發(fā)展。從傳統(tǒng)的云母鉑熱電阻元件、陶瓷鉑熱電阻元件、玻璃鉑熱電阻元件到厚膜鉑熱電阻元件和薄膜鉑熱電阻元件，鉑熱電阻元件的發(fā)展方向已轉(zhuǎn)移到膜式結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品上，尤其是薄膜鉑熱電阻元件。

主要技術(shù)參數(shù)

電氣出口:M20x1.5,NPT1/2 精度等級:I 、 II 防護等級:IP65 偶絲直徑:Φ0.5 公稱壓力:常壓

量程規(guī)格

型號 分度號 測溫范圍 精度等級 允許偏差

WZPK -200~600 PT100 * -200~600℃時允差±(0.15+0.002|t|)